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关于“魏大庆”检索到 共2种现货商品
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电子显微分析实验指导
¥20.4(8.5折)定价:¥24.0本书涵盖了电子显微镜分析的各个实验内容,包括扫描电子显微镜(能谱和电子背散射衍射附件)电子探针、聚焦离子束、透射电子显微镜(原位表征方法)等内容。全书共5章、22个实验,着重描述了各个设备的原理、应用案例和实验操作过程等。章介绍扫描电子显微镜和电子探针的结构、原理及操作;第2章介绍扫描电子显微镜附属设备结构、原理及操作;第3章介绍聚焦离子束系统结构、工作原理及应用操作;第4章介绍透射电子显微镜结构、原理及基本应用操作;第5章介绍透射电
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聚焦离子束:应用与实践
¥49.6(7.3折)定价:¥68.0聚焦离子束（FocusedIonBeam，FIB）是微纳加工、芯片失效分析、微结构科学研究的核心技术装备之一。随着材料、器件的微尺度化（纳米甚至原子尺度）、高集成化（每平方厘米集成10亿个以上的功能单元）、多功能化（在多种外场条件下工作），越来越多的材料微结构研究、器件研发须使用聚焦离子束。全书共分七章，从聚焦离子束的结构原理出发，紧密结合应用与实践，对聚焦离子束诱导沉积、溅射刻蚀、离子注入、离子束曝光、联合使用模式以及样品的前期处理
