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基于DEA的阻塞效应识别与测度
¥84.2(6.1折)定价:¥138.0本书主要聚焦于数据包络分析框架下的阻塞效应识别和测度方法。本书首先综述了DEA框架下现有的阻塞效应识别和测度方法,总结出现有方法在识别与测度过度投入上的劣势,并基于此提出了能更准确反映过度投入状况的新的阻塞效应概念以及相应的识别与测度方法。针对带有非期望产出指标以及多个生产阶段的不同应用场景,本书将新的阻塞效应概念以及识别与测度方法进行了拓展,并在最后探讨了阻塞效应与产能利用率的关系。为了直观解释阻塞效应的识别与测度方法,本书提供了大