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纳米力学测试新方法-扫描探针声学显微术
¥56.2(7.2折)定价:¥78.0本书从AFAM的力学基础－接触力学出发，阐述了AFAM的原理和基础、准确度和灵敏度、粘弹性成像，以及AFAM的广泛应用。此外，还对正在兴起的多频原子力显微术进行了介绍。本书的内容安排如下：第一章绪论简要介绍当前主要的纳米力学测试方法，以及AFAM的发展历史和研究现状。第二章首先对接触力学的基本理论进行介绍，随后介绍纳米压痕技术的测试原理和应用。第三章详细介绍原子力显微镜的基本原理和应用模式。第四章详细介绍AFAM的基本理论，定量化原理
