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  • 宽禁带功率半导体器件可靠性

    孙伟锋 等 著  /  2024-09-01  /  东南大学出版社
    ¥43.5(7.5折)定价:¥58.0

    以碳化硅、氮化镓为代表的第三代宽禁带功率半导体器件具有导通电阻低、击穿电压高、开关速度快及热传导性好等优点,相比传统的Si基功率器件,可简化功率电子系统拓扑结构,减小系统损耗和体积,因而对功率电子系统的发展至关重要。然而,由于宽禁带器件的外延材料和制备工艺仍不完善,器件界面缺陷密度大等问题,使得宽禁带功率器件在高温、高压、大电流及快速开关等极限条件下长期应用时,可靠性问题频发,严重制约了宽禁带功率半导体器件的推广应用。本书详细介绍了碳

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