第1章绪 论1.1 辐射照相概述1.1.1 X射线照相及其应用1.1.2 闪光X射线照相1.2 高能X射线闪光照相1.2.1 研究背景及意义1.2.2 基本原理1.3 高能X射线闪光照相加速器1.3.1 国外高能X射线闪光照相加速器1.3.2 我国高能X射线闪光照相加速器1.4 高能X射线闪光照相的研究概况参考文献第2章高能X射线照相的物理基础2.1 电子与物质的相互作用2.1.1 带电粒子与物质的相互作用概述2.1.2 电子的电离能量损失2.1.3 电子的辐射能量损失2.1.4 电子的散射与射程2.2 光子与物质的相互作用2.2.1 光电效应2.2.2 康普顿效应2.2.3 电子对产生2.2.4 瑞利散射2.2.5 光核反应2.3 窄束单能X射线的衰减2.3.1 线衰减系数和质量衰减系数2.3.2 能量转移系数和能量吸收系数2.4 照射量与剂量2.4.1 照射量及其单位2.4.2 照射量与能通量的关系2.4.3 吸收剂量2.4.4 照射量的测量方法2.4.5 吸收剂量的测量方法参考文献第3章高能X射线源3.1 轫致辐射3.1.1 轫致辐射转换靶3.1.2 厚靶轫致辐射角分布3.1.3 Martin公式3.2 击靶电子束的特性3.2.1 电子束的发射度3.2.2 电子束分布及其抽样3.2.3 电子束参量对光源照射量的影响3.2.4 电子束参量对照射量分布的影响3.2.5 光源尺寸与电子束斑尺寸的关系3.3 光源焦斑的描述3.3.1 光源的分布函数3.3.2 光源的焦斑尺寸3.4 光源的数值模拟3.4.1 转换靶的厚度3.4.2 轫致辐射光子、泄露电子、光中子的产额3.4.3 轫致辐射光子、泄露电子和光中子的能谱和角分布3.4.4 模拟结果与实验结果的比较3.5 光源尺寸的测量方法3.5.1 测量原理3.5.2 可见光光源的针孔法和狭缝法3.5.3 高能X射线源的针孔法和狭缝法3.5.4 刃边法3.5.5 Rollbar法3.5.6 焦斑测量方法的适用性3.6 光源能谱的测量方法3.6.1 吸收法3.6.2 康普顿谱仪法参考文献第4章图像接收系统4.1 图像探测原理4.2 屏-片接收系统4.2.1 照相胶片4.2.2 H-D曲线4.2.3 胶片的感光特性4.2.4 增感屏—胶片系统4.2.5 金属増感屏的増感效应4.2.6 H-D曲线的测量技术4.3 CCD接收系统4.3.1 CCD接收系统简介4.3.2 转换屏模糊效应的物理分析4.3.3 阵列屏非均匀响应的校正方法4.3.4 CCD接收系统的特性曲线4.3.5 CCD相机的灵敏度4.3.6 DARHT照相机4.4 可见光的输运特性4.4.1 可见光输运的物理建模4.4.2 可见光输运的数值模拟程序4.4.3 数值模拟程序的验证4.5 接收系统成像性能的数值模拟4.5.1 图像接收系统中的能量沉积4.5.2 屏-片接收系统的数值模拟4.5.3 CCD接收系统的数值模拟参考文献第5章散射的物理规律5.1 散射照射量及其影响5.2 一次散射规律的解析分析5.2.1 平板模型5.2.2 球模型5.3 照相系统中各部件的散射分析5.3.1 客体的散射5.3.2 探测器保护器件的散射5.3.3 客体-保护器件系统的直散比5.3.4 客体和探测器保护器件对散射贡献的分层分析5.4 主准直器5.4.1 主准直器的设计方法5.4.2 减小散射的方法5.5 附加准直器5.5.1 附加准直器的设计方法5.5.2 附加准直器的降散射效果5.6 多孔精细网栅5.6.1 多孔精细网栅技术5.6.2 网栅的加工制造5.6.3 网栅参数的确定方法5.6.4 网栅降散射的性能分析5.6.5 网栅失聚焦对图像的影响5.7 散射量的确定5.7.1 客体结构与散射照射量的关系5.7.2 动态实验中散射照射量的确定参考文献第6章照相系统的优化设计6.1 照相布局6.1.1 高能X射线闪光照相的图像模糊6.1.2 放大比6.1.3 图像品质的评定方法6.2 高能X射线闪光照相装置的诊断能力6.2.1闪光机的技术指标要求6.2.2 面密度测量的不确定性分析6.2.3 大放大比照相布局6.3 以散射分布均匀为目标的照相系统设计6.3.1 散射分布均匀性的定义6.3.2 散射均匀性的影响因素分析6.4 近客体准直器的成像规律参考文献第7章图像处理方法及应用7.1 图像复原概述7.1.1 图像退化模型7.1.2 图像复原方法简介7.1.3 图像复原质量的评价指标7.2 图像噪声及去噪声算法7.2.1 噪声模型7.2.2 屏-片接收系统的噪声7.2.3 CCD接收系统的噪声7.2.4 噪声滤波器7.2.5 基于扩散方程的去噪声算法7.3 图像模糊及去模糊算法7.3.1 图像模糊7.3.2 图像去模糊算法7.3.3 混合噪声下的图像去模糊算法7.3.4 迭代盲反卷积算法7.4 边缘检测7.4.1 图像边缘及检测的基本概念7.4.2 经典的边缘检测方法7.4.3 结合新的数学工具的边缘检测方法7.4.4 基于人工智能的边缘检测方法7.5 界面位置确定方法7.5.1 图像的界面偏移量7.5.2 界面检测以及界面偏移量的确定7.5.3 动态样品的界面位置确定7.5.4 界面位置的不确定度估计参考文献第8章密度重建方法及应用8.1 图像投影重建8.1.1 X射线照相的基本方程8.1.2 投影重建原理8.1.3 Radon变换8.2 Fourier逆变换重建算法8.3 滤波反投影重建算法8.3.1 平行束滤波反投影算法8.3.2 扇形束滤波反投影算法8.4 代数重建算法8.4.1 代数重建模型8.4.2 平行束采样的投影矩阵8.4.3 扇形束采样的投影矩阵8.4.4 锥形束采样的投影矩阵8.5 轴对称物体的密度重建8.5.1 Abel逆变换8.5.2 Bayesian方法8.5.3 迭代求解技术8.6 密度重建的正则化方法8.6.1 正则化方法8.6.2 密度重建的正则化方法8.6.3 不同正则化模型的密度重建8.6.4 高阶全变分正则化模型8.7 基于约束共轭梯度的非线性密度重建方法8.7.1 非线性密度重建模型8.7.2 非线性共轭梯度算法8.7.3 约束共轭梯度算法及数值实验8.7.4 HADES-CCG算法8.8 基于MCMC方法的密度重建及其不确定性估计8.8.1 MCMC方法8.8.2 面密度测量的不确定度8.8.3 数值实验8.9 少数投影数据的三维密度重建方法8.9.1 贝叶斯推理引擎8.9.2 压缩感知方法参考文献