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石墨烯材料质量技术基础:计量 版权信息
- ISBN：9787562864141
- 条形码：9787562864141 ; 978-7-5628-6414-1
- 装帧：一般轻型纸
- 册数：暂无
- 重量：暂无
- 所属分类：>>
石墨烯材料质量技术基础:计量 本书特色
石墨烯是碳的同素异形体大家族的又一个传奇，也是当今横跨学术界和产业界的**明星，几乎到了家喻户晓、妇孺皆知的程度。当然，石墨烯是当之无愧的。作为由单层碳原子构成的蜂窝状二维原子晶体材料，石墨烯拥有无与伦比的特性。理论上讲，它是导电性和导热性较好的材料，也是理想的轻质高强材料。正因如此，一经问世便吸引了**范围的关注。石墨烯有可能创造一个全新的产业，石墨烯产业将成为未来**高科技产业竞争的高地，这一点已经成为**外学术界和产业界的共识。 从2004年至今，已经有了近十六年的历史沉淀。无论是石墨烯的基础研究，还是石墨烯材料的产业化实践，人们都有了*多的一手材料，*有可能对石墨烯材料有一个***套丛书出的、科学的、理性的认识。总结历史，是为了*好地走向未来。对于新兴的石墨烯产业来说，战略前沿新材料——石墨烯出版工程的出版意义也是不言而喻的。事实上，**外已经出版了数十部石墨烯相关书籍，其中不乏经典性著作。本丛书的定位有所不同，希望能够全面总结石墨烯相关的知识积累，反映石墨烯领域的**外前沿研究进展，展示石墨烯新材料的产业化现状与发展前景，尤其希望能够充分体现国人对石墨烯领域的贡献。 本丛书共包括22分册，执笔作者20余位，都是石墨烯领域的重量级学者、专家，因此可以从源头上保障丛书的专业性和科学性。丛书分五大部分，囊括了从石墨烯的基本性质和表征技术，到石墨烯材料的制备方法及其在不同领域的应用，以及石墨烯产品的计量检测标准等***的知识总结。同时，两份产业研究报告详细阐述了世界各国的石墨烯产业发展现状和未来发展趋势。除此之外，丛书还为广大石墨烯迷们提供了一份科普读物《有问必答：石墨烯的魅力》，针对广泛征集到的石墨烯相关问题答疑解惑，去伪求真。 本丛书的内容涵盖石墨烯新材料的方方面面，每个分册也相对独立，具有很强的系统性、知识性、专业性和即时性，凝聚着各位作者的研究心得、智慧和心血，供不同需求的广大读者参考使用。希望丛书的出版对中国的石墨烯研究和中国石墨烯产业的健康发展有所助益。 1. “战略前沿新材料——石墨烯出版工程” “十三五”**重点出版物出版规划项目\/**出版基金丛书由石墨烯的基本性质与表征技术、石墨烯的制备技术和计量标准、石墨烯的分类应用、石墨烯的发展现状报告、石墨烯科普知识等五大部分共22分册构成，本书为第07分册。 2. 丛书由我国石墨烯研究领域的主要开拓者及我国石墨烯发展的重要推动者、北京大学教授、北京石墨烯研究院创院院长刘忠范院士亲自策划并担任总主编。 3.全书采用80克雅质纸，彩色印刷，清晰直观地展现了石墨烯的结构、模拟及表征结果。
石墨烯材料质量技术基础:计量 内容简介
《石墨烯材料质量技术基础：计量》共七章。前两章主要介绍了计量与材料计量的基本概念，以及石墨烯材料计量、标准的规划设计及框架。后五章主要介绍了石墨烯材料质量评价中关于真假判断的部分计量技术。第3章介绍了石墨烯材料拉曼光谱计量技术，第4章介绍了X射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构，第5章介绍了原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度，第6章介绍了石墨烯材料电子显微镜计量技术，第7章介绍了石墨烯粉体化学成分测量技术。附录补充了X射线衍射仪的溯源性研究、掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准的内容。
石墨烯材料质量技术基础:计量 目录
第1章 计量与材料计量
1．1 计量概述
1．2 计量与测量
1．2．1 测量
1．2．2 计量
1．2．3 计量特点
1．3 测量误差与测量不确定度
1．3．1 测量误差
1．3．2 测量不确定度
1．4 标准物质
1．5 计量的作用
1．5．1 计量对国民经济的作用
1．5．2 计量在基础研究中的作用
1．6 材料计量概述
1．6．1 材料计量研究内容
1．6．2 材料计量研究成果及社会服务
1．6．3 材料计量国内外现状
1．7 国际计量组织
1．7．1 国际计量局（BIPM）
1．7．2 亚太计量规划组织（APMP）
1．7．3 先进材料与标准凡尔赛合作计划（VAMAS）
1．8 计量比对
1．9 总结与展望
1．9．1 总结
1．9．2 展望
参考文献
第2章 国家质量基础设施及石墨烯材料计量
2．1 我国古代质量观——-度量衡
2．2 现代质量观——-国家质量基础设施
2．3 计量在国家质量基础设施中的基础地位
2．4 纳米技术对计量技术的需求
2．5 石墨烯材料产业国家质量基础设施技术发展
2．6 石墨烯材料关键特性参数调研
参考文献
第3章 石墨烯材料拉曼光谱计量技术
3．1 概述
3．2 拉曼光谱仪溯源
3．2．1 拉曼光谱测量原理
3．2．2 拉曼频移的溯源
3．2．3 拉曼相对强度的溯源
3．3 拉曼频移和相对强度标准物质的研制
3．3．1 拉曼频移标准物质
3．3．2 拉曼相对强度标准物质
3．4 基于拉曼频移和相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法
3．4．1 基于拉曼频移标准物质校准拉曼光谱仪的方法
3．4．2 基于拉曼相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法
3．5 石墨烯材料拉曼光谱测量标准方法
3．5．1 测量方法研究
3．5．2 标准方法建立过程中的国内比对
3．6 小结
参考文献
第4章 X射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构
4．1 概述
4．2 设备溯源和校准
4．2．1 设备溯源
4．2．2 设备校准
4．3 测量方法研究
4．3．1 测量样品准备
4．3．2 取样原则
4．3．3 测量条件
4．3．4 图谱分析及数据处理
4．4 计量比对
4．5 标准方法
4．6 小结
参考文献
第5章 原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度
5．1 概述
5．2 原子力显微镜技术原理
5．3 原子力显微镜设备校准与溯源
5．4 测量方法建立
5．4．1 AFM扫描模式的选择
5．4．2 AFM测量用基底的影响
5．4．3 AFM测量参数的影响
5．4．4 AFM数据分析处理的方法
5．4．5 不确定度评定
5．5 计量比对
5．5．1 比对样品的选取
5．5．2 国内比对
5．5．3 国际比对
5．6 测量方法标准化
5．7 小结
参考文献
第6章 石墨烯材料电子显微镜计量技术
6．1 扫描电镜测量石墨烯材料片层尺寸和覆盖度
6．1．1 扫描电镜溯源及校准
6．1．2 石墨烯片层尺寸测量方法
6．1．3 大范围金属基底上石墨烯薄膜覆盖度的测量方法
6．2 透射电镜测量石墨烯材料形貌、层数和层间距
6．2．1 透射电镜校准溯源
6．2．2 透射电镜放大倍率校准用标准物质
6．2．3 透射电镜校准方法
6．2．4 石墨烯形貌、层数和层间距的透射电镜测量方法
6．3 小结
参考文献
第7章 石墨烯粉体化学成分测量技术
7．1 概述
7．2 XPS仪器测量要求
7．2．1 XPS仪器简介
7．2．2 XPS仪器检定校准
7．2．3 XPS仪器检定校准用标准物质
7．2．4 XPS仪器检测注意事项
7．3 石墨烯粉体的C-O测量技术研究
7．3．1 测量样品选取
7．3．2 石墨烯粉体XPS测量方法开发
7．3．3 石墨烯粉体C/O测量实例
7．4 ICPMS仪器测量要求
7．5 石墨烯粉体中金属杂质测量技术研究
7．5．1 测量样品处理
7．5．2 石墨烯粉体的ICPMS测量程序
7．5．3 石墨烯粉体中金属杂质测量实例
7．6 标准测量方法开发
7．7 小结
参考文献
附录1 X射线衍射仪的溯源性研究
附录2 掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准
索引
1．1 计量概述
1．2 计量与测量
1．2．1 测量
1．2．2 计量
1．2．3 计量特点
1．3 测量误差与测量不确定度
1．3．1 测量误差
1．3．2 测量不确定度
1．4 标准物质
1．5 计量的作用
1．5．1 计量对国民经济的作用
1．5．2 计量在基础研究中的作用
1．6 材料计量概述
1．6．1 材料计量研究内容
1．6．2 材料计量研究成果及社会服务
1．6．3 材料计量国内外现状
1．7 国际计量组织
1．7．1 国际计量局（BIPM）
1．7．2 亚太计量规划组织（APMP）
1．7．3 先进材料与标准凡尔赛合作计划（VAMAS）
1．8 计量比对
1．9 总结与展望
1．9．1 总结
1．9．2 展望
参考文献
第2章 国家质量基础设施及石墨烯材料计量
2．1 我国古代质量观——-度量衡
2．2 现代质量观——-国家质量基础设施
2．3 计量在国家质量基础设施中的基础地位
2．4 纳米技术对计量技术的需求
2．5 石墨烯材料产业国家质量基础设施技术发展
2．6 石墨烯材料关键特性参数调研
参考文献
第3章 石墨烯材料拉曼光谱计量技术
3．1 概述
3．2 拉曼光谱仪溯源
3．2．1 拉曼光谱测量原理
3．2．2 拉曼频移的溯源
3．2．3 拉曼相对强度的溯源
3．3 拉曼频移和相对强度标准物质的研制
3．3．1 拉曼频移标准物质
3．3．2 拉曼相对强度标准物质
3．4 基于拉曼频移和相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法
3．4．1 基于拉曼频移标准物质校准拉曼光谱仪的方法
3．4．2 基于拉曼相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法
3．5 石墨烯材料拉曼光谱测量标准方法
3．5．1 测量方法研究
3．5．2 标准方法建立过程中的国内比对
3．6 小结
参考文献
第4章 X射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构
4．1 概述
4．2 设备溯源和校准
4．2．1 设备溯源
4．2．2 设备校准
4．3 测量方法研究
4．3．1 测量样品准备
4．3．2 取样原则
4．3．3 测量条件
4．3．4 图谱分析及数据处理
4．4 计量比对
4．5 标准方法
4．6 小结
参考文献
第5章 原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度
5．1 概述
5．2 原子力显微镜技术原理
5．3 原子力显微镜设备校准与溯源
5．4 测量方法建立
5．4．1 AFM扫描模式的选择
5．4．2 AFM测量用基底的影响
5．4．3 AFM测量参数的影响
5．4．4 AFM数据分析处理的方法
5．4．5 不确定度评定
5．5 计量比对
5．5．1 比对样品的选取
5．5．2 国内比对
5．5．3 国际比对
5．6 测量方法标准化
5．7 小结
参考文献
第6章 石墨烯材料电子显微镜计量技术
6．1 扫描电镜测量石墨烯材料片层尺寸和覆盖度
6．1．1 扫描电镜溯源及校准
6．1．2 石墨烯片层尺寸测量方法
6．1．3 大范围金属基底上石墨烯薄膜覆盖度的测量方法
6．2 透射电镜测量石墨烯材料形貌、层数和层间距
6．2．1 透射电镜校准溯源
6．2．2 透射电镜放大倍率校准用标准物质
6．2．3 透射电镜校准方法
6．2．4 石墨烯形貌、层数和层间距的透射电镜测量方法
6．3 小结
参考文献
第7章 石墨烯粉体化学成分测量技术
7．1 概述
7．2 XPS仪器测量要求
7．2．1 XPS仪器简介
7．2．2 XPS仪器检定校准
7．2．3 XPS仪器检定校准用标准物质
7．2．4 XPS仪器检测注意事项
7．3 石墨烯粉体的C-O测量技术研究
7．3．1 测量样品选取
7．3．2 石墨烯粉体XPS测量方法开发
7．3．3 石墨烯粉体C/O测量实例
7．4 ICPMS仪器测量要求
7．5 石墨烯粉体中金属杂质测量技术研究
7．5．1 测量样品处理
7．5．2 石墨烯粉体的ICPMS测量程序
7．5．3 石墨烯粉体中金属杂质测量实例
7．6 标准测量方法开发
7．7 小结
参考文献
附录1 X射线衍射仪的溯源性研究
附录2 掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准
索引
展开全部
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