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数字电路老化预测与容忍

作者：徐辉著

出版社：中国科学技术大学出版社出版时间：2018-02-01

开本： 24cm 页数： 123页

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版权信息
本书特色
内容简介
目录

数字电路老化预测与容忍版权信息

ISBN：9787312043598
条形码：9787312043598 ; 978-7-312-04359-8
装帧：一般胶版纸
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：
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数字电路老化预测与容忍本书特色

徐辉著的《数字电路老化预测与容忍》围绕负偏置温度不稳定性引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究，主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析；对于高性能集成电路中常用的多米诺电路，针对其老化研究容忍方法，并提出对多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。
本书可供计算机专业本科生、研究生以及教师阅读参考。

数字电路老化预测与容忍内容简介

本书围绕NBTI引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究。研究的内容主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析论述, 对于高性能集成电路中常用的多米诺电路, 针对其老化研究容忍方法, 并提出对于多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。

数字电路老化预测与容忍目录

前言
第1章引言
1.1 研究的背景和意义
1.2 集成电路可靠性相关知识介绍
1.2.1 HCI效应导致的集成电路老化
1.2.2 NBTI效应引起的集成电路老化
1.2.3 亚阈值漏电流
1.3 老化研究现状及其局限性
1.4 本书的研究内容及贡献
1.5 本书的课题来源及组织结构
第2章集成电路老化的相关研究
2.1 NBTI效应的反应-扩散模型
2.2 NBTI效应引起电路衰退的预测解析模型
2.2.1 静态NBTI效应衰退模型
2.2.2 动态NBTI效应衰退模型
2.2.3 长时NBTI效应衰退精简模型
2.3 集成电路的老化预测方法
2.3.1 集成电路老化的在线预测／监测方法
2.3.2 基于预兆单元的集成电路老化检测／预测方案
2.3.3 集成电路硅前老化预测
2.4 集成电路的老化防护方法
2.4.1 基于电路拓扑结构重构的老化防护
2.4.2 基于向量恢复的集成电路老化防护
2.4.3 基于内部节点控制的集成电路老化防护
2.4.4 基于动态调整技术的集成电路老化防护
第3章低开销的信号违规检测结构
3.1 目标故障
3.1.1 目标故障类型
3.1.2 目标故障在时序电路中的表现形式
3.2 低开销信号违规检测器LSVD结构
3.3 实验结果
3.3.1 故障检测能力分析
3.3.2 LSVD自身抗老化分析
3.3.3 面积开销分析
3.3.4 功耗开销分析
3.4 结论
第4章基于对称或非门的老化预测／检测改进方案
4.1 老化预测及能力不平衡的原因
4.2 改进的方案
4.3 仿真与比较
4.3.1 不同工艺尺寸下的相对误差
4.3.2 PVT对于改进SC的影响
4.3.3 版图比较
4.4 总结
第5章容忍老化的多米诺门
5.1 多米诺电路及其老化
5.1.1 有足多米诺电路和无足多米诺电路
5.1.2 多米诺电路的性能
5.1.3 NBTI效应对于多米诺电路的影响
5.2 高扇人多米诺或门

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