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X射线分析方法

X射线分析方法

作者:巫瑞智 著
出版社:科学出版社出版时间:2024-05-01
开本: B5 页数: 222
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X射线分析方法 版权信息

  • ISBN:9787030776976
  • 条形码:9787030776976 ; 978-7-03-077697-6
  • 装帧:暂无
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 所属分类:

X射线分析方法 内容简介

本书介绍X射线物理学基础、X射线衍射方向和衍射强度、多晶体X射线衍射分析等基本理论知识,在此基础上介绍当前科学研究中经常使用的各种X射线技术,包括利用X射线衍射技术分析材料的物相、残余应力、晶粒尺寸、位错密度、织构等,以及利用X射线光电子能谱分析材料表面元素种类、含量。此外,本书还介绍了近年来基于电子计算机断层扫描技术发展起来的三维X射线显微镜分析方法。

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