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先进电子封装技术

作者：杜经宁、陈智、陈宏明著著

出版社：化学工业出版社出版时间：2024-10-01

开本：其他页数： 224

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内容简介

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先进电子封装技术版权信息

ISBN：9787122458827
条形码：9787122458827 ; 978-7-122-45882-7
装帧：暂无
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：

先进电子封装技术内容简介

本书系统而全面地总结了现代电子封装科学的基础知识以及先进技术。第1部分概述了电子封装技术，其中包括了*重要的封装技术基础，如引线键合、载带自动键合、倒装芯片焊点键合、微凸块键合和CuCu直接键合。第2部分介绍电子封装的电路设计，重点是关于低功耗设备和高智能集成的设计，如25D/3D集成。第3部分介绍电子封装的可靠性，涵盖电迁移、热迁移、应力迁移和失效分析等。*后还探讨了人工智能（AI）在封装可靠性领域的应用。各章中包含大量来自工业界的实际案例，能够加强读者对相关概念的理解，以便在实际工作中应用。本书可供半导体封装、测试、可靠性等领域的工程技术人员、研究人员参考，也可作为微电子、材料、物理、电气等专业的高年级本科生和研究生的专业教材。

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