包邮卫星通信相控阵设计技术

作者：金世超[等]编著

出版社：中国宇航出版社出版时间：2024-02-01

开本： 27cm 页数： 212页

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内容简介
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卫星通信相控阵设计技术版权信息

ISBN：9787515923567
条形码：9787515923567 ; 978-7-5159-2356-7
装帧：精装
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：
工业技术
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航空、航天

卫星通信相控阵设计技术内容简介

本书聚焦卫星通信终端相控阵设计技术，对相关知识进行了系统的阐述。其中，第1章介绍了国外卫星互联网星座的*新进展；第2章介绍了国外卫通相控阵发展现状；第3章阐述了相控阵基础知识；第4章介绍了相控阵总体设计；第5章阐述了天线阵元和阵列优化技术；第6章阐述了射频组件芯片设计技术；第7章论述了相控阵电路集成方案；第8章介绍了相控阵校准测试方法。

卫星通信相控阵设计技术目录

第1章卫星互联网星座 1.1 低轨卫星通信系统 1.1.1 Starlink星座 1.1.2 OneWeb星座 1.1.3 Kuiper星座 1.2 高中轨卫星通信系统 1.2.1 ViaSat卫星系统 1.2.2 Hughes卫星系统 1.2.3 KONNECT卫星系统 1.2.4 mPOWER卫星系统参考文献第2章相控阵发展现状 2.1 卫通相控阵发展现状 2.1.1 Starlink相控阵天线 2.1.2 Kuiper相控阵天线 2.1.3 OneWeb相控阵天线 2.1.4 Gilat相控阵天线 2.1.5 Satixfy相控阵天线 2.1.6 C-Com相控阵天线 2.1.7 AAC相控阵天线 2.1.8 Phasor相控阵天线 2.1.9 Isotropic Systems相控阵天线 2.1.10 Kymeta天线 2.1.11 CesiumAstro天线 2.2 卫通相控阵芯片发展现状 2.2.1 Anokiwave相控阵芯片 2.2.2 Renesas相控阵芯片 2.2.3 ADI相控阵芯片 2.3 发展趋势参考文献第3章相控阵基础知识 3.1 相控阵理论 3.1.1 一维相控阵 3.1.2 二维相控阵 3.1.3 稀疏化相控阵 3.1.4 相控阵单元间的互耦 3.2 相控阵主要指标 3.2.1 阻抗指标 3.2.2 辐射指标 3.3 分析、综合、赋形方法 3.3.1 阵列天线通用分析方法 3.3.2 阵列天线综合方法 3.3.3 阵列天线低副瓣赋形方法参考文献第4章相控阵总体设计 4.1 总体组成 4.2 工作流程 4.3 关键指标 4.3.1 天线增益 4.3.2 波束宽度 4.3.3 瞬时带宽 4.3.4 EIRP 4.3.5 G/T 4.3.6 扫描范围 4.3.7 极化 4.3.8 轴比 4.4 电路架构 4.4.1 模拟相控阵架构 4.4.2 数字相控阵架构 4.4.3 模数混合相控阵架构 4.5 结构架构 4.5.1 砖式结构 4.5.2 瓦式结构 4.5.3 砖瓦混合结构 4.6 热控设计 4.6.1 自然散热 4.6.2 强迫风冷 4.6.3 强迫液冷 4.6.4 热管散热 4.6.5 相变冷却参考文献第5章阵元与阵列优化 5.1 分离口径天线阵列设计 5.1.1 单馈点圆极化天线阵列 5.1.2 双馈点圆极化天线阵列 5.1.3 多单元圆极化天线阵列 5.1.4 设计案例 5.2 共口径天线阵列设计 5.2.1 共用栅格共口径天线阵 5.2.2 分立栅格共口径天线阵 5.2.3 设计案例 5.3 稀疏化天线阵列设计 5.3.1 规则稀疏阵列 5.3.2 随机稀疏阵列 5.3.3 子阵稀疏阵列 5.3.4 设计实例参考文献第6章射频组件芯片 6.1 毫米波芯片制造工艺 6.2 硅基毫米波芯片工艺 6.3 硅基毫米波移相器设计 6.3.1 波束赋形方案架构 6.3.2 射频移相电路 6.4 卫通接收芯片设计 6.4.1 低噪声可变增益放大器设计 6.4.2 矢量调制器设计 6.4.3 低正交误差的移相网络设计 6.4.4 8通道接收芯片测试结果 6.5 卫通发射芯片设计 6.5.1 低插损毫米波数控衰减器设计 6.5.2 毫米波驱动放大器设计 6.5.3 8通道发射芯片测试结果 6.6 卫通多波束芯片设计 6.7 毫米波芯片封装技术 6.8 毫米波芯片测试技术参考文献第7章相控阵电路集成 7.1 典型集成架构 7.1.1 通用集成架构 7.1.2 基于转接板的集成架构 7.1.3 基于AiP组件的集成架构 7.1.4 基于多层解耦的集成架构 7.2 关键电路设计 7.2.1 接收电路设计 7.2.2 发射电路设计 7.3 电路叠层工艺设计 7.3.1 PCB板叠层设计 7.3.2 背钻十盲埋孔技术 7.3.3 Fusion-bonding技术 7.3.4 铜浆烧结技术 7.3.5 激光叠孔技术 7.3.6 联合多种过孔技术参考文献第8章相控阵校准测试 8.1 近场测量原理 8.2 测试系统组成 8.3 典型功能指标 8.3.1 功能要求 8.3.2 校准测试指标 8.3.3 方向图测试指标 8.3.4 近场扫描架指标 8.3.5 三维转台指标 8.3.6 微波暗箱指标 8.4 关键组成设计 8.4.1 屏蔽暗箱 8.4.2 近场扫描架 8.4.3 测试软件 8.5 校准测试效率 8.6 高效校准测试关键技术 8.6.1 多探头多频并行校准测试技术 8.6.2 高效测试任务调度优化算法 8.6.3 非等间距数据处理算法和数据实时校验技术参考文献

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