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UVM芯片验证技术案例集 版权信息
- ISBN：9787302658542
- 条形码：9787302658542 ; 978-7-302-65854-2
- 装帧：平装-胶订
- 册数：暂无
- 重量：暂无
- 所属分类：>
UVM芯片验证技术案例集 本书特色
一本基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书，包括多种实际问题场景下的解决专题。
不同于带领读者学习基础用法，本书分为多个专题，每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题，相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤，实用性强。
详细描述了每个专题要解决的问题、背景、解决的思路、基本原理、步骤，并给出了示例代码供参考。
UVM芯片验证技术案例集 内容简介
本书是基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书，包括对多种实际问题场景下的解决专题，推荐作为UVM的进阶教材进行学习。 不同于带领读者学习UVM的基础用法，本书分为多个专题，每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题，相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤，实用性强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景，解决的思路、基本原理、步骤，并给出了示例代码供参考。 本书适合具备一定基础的相关专业的在校大学生或者相关领域的技术工程人员进行阅读学习，书中针对多种芯片验证实际工程场景给出了对应的解决方法，具备一定的工程参考价值，并且可以作为高等院校和培训机构相关专业的教学参考书。
UVM芯片验证技术案例集 目录
本书源码
第1章可重用的UVM验证环境 1.1背景技术方案及缺陷 1.1.1现有方案 1.1.2主要缺陷 1.2解决的技术问题 1.3提供的技术方案 1.3.1结构 1.3.2原理 1.3.3优点 1.3.4具体步骤 第2章interface快速声明、连接和配置传递的方法 2.1背景技术方案及缺陷 2.1.1现有方案 2.1.2主要缺陷 2.2解决的技术问题 2.3提供的技术方案 2.3.1结构 2.3.2原理 2.3.3优点 2.3.4具体步骤 第3章在可重用验证环境中连接interface的方法 3.1背景技术方案及缺陷 3.1.1现有方案 3.1.2主要缺陷 3.2解决的技术问题 3.3提供的技术方案 3.3.1结构 3.3.2原理 3.3.3优点 3.3.4具体步骤 第4章支持结构体端口数据类型的连接interface的方法 4.1背景技术方案及缺陷 4.1.1现有方案 4.1.2主要缺陷 4.2解决的技术问题 4.3提供的技术方案 4.3.1结构 4.3.2原理 4.3.3优点 4.3.4具体步骤 第5章快速配置和传递验证环境中配置对象的方法 5.1背景技术方案及缺陷 5.1.1现有方案 5.1.2主要缺陷 5.2解决的技术问题 5.3提供的技术方案 5.3.1结构 5.3.2原理 5.3.3优点 5.3.4具体步骤 第6章对采用reactive slave方式验证的改进方法 6.1背景技术方案及缺陷 6.1.1现有方案 6.1.2主要缺陷 6.2解决的技术问题 6.3提供的技术方案 6.3.1结构 6.3.2原理 6.3.3优点 6.3.4具体步骤 第7章应用sequence反馈机制的激励控制方法 7.1背景技术方案及缺陷 7.1.1现有方案 7.1.2主要缺陷 7.2解决的技术问题 7.3提供的技术方案 7.3.1结构 7.3.2原理 7.3.3优点 7.3.4具体步骤 第8章应用uvm_tlm_analysis_fifo的激励控制方法 8.1背景技术方案及缺陷 8.1.1现有方案 8.1.2主要缺陷 8.2解决的技术问题 8.3提供的技术方案 8.3.1结构 8.3.2原理 8.3.3优点 8.3.4具体步骤 第9章快速建立DUT替代模型的记分板标准方法 9.1背景技术方案及缺陷 9.1.1现有方案 9.1.2主要缺陷 9.2解决的技术问题 9.3提供的技术方案 9.3.1结构 9.3.2原理 9.3.3优点 9.3.4具体步骤 第10章支持乱序比较的记分板的快速实现方法 10.1背景技术方案及缺陷 10.1.1现有方案 10.1.2主要缺陷 10.2解决的技术问题 10.3提供的技术方案 10.3.1结构 10.3.2原理 10.3.3优点 10.3.4具体步骤 第11章对固定延迟输出结果的RTL接口信号的monitor的简便方法 11.1背景技术方案及缺陷 11.1.1现有方案 11.1.2主要缺陷 11.2解决的技术问题 11.3提供的技术方案 11.3.1结构 11.3.2原理 11.3.3优点 11.3.4具体步骤 第12章监测和控制DUT内部信号的方法 12.1背景技术方案及缺陷 12.1.1现有方案 12.1.2主要缺陷 12.2解决的技术问题 12.3提供的技术方案 12.3.1结构 12.3.2原理 12.3.3优点 12.3.4具体步骤 第13章向UVM验证环境中传递设计参数的方法 13.1背景技术方案及缺陷 13.1.1现有方案 13.1.2主要缺陷 13.2解决的技术问题 13.3提供的技术方案 13.3.1结构 13.3.2原理 13.3.3优点 13.3.4具体步骤 第14章对设计与验证平台连接集成的改进方法 14.1背景技术方案及缺陷 14.1.1现有方案 14.1.2主要缺陷 14.2解决的技术问题 14.3提供的技术方案 14.3.1结构 14.3.2原理 14.3.3优点 14.3.4具体步骤 第15章应用于路由类模块设计的transaction调试追踪和控制的方法 15.1背景技术方案及缺陷 15.1.1现有方案 15.1.2主要缺陷 15.2解决的技术问题 15.3提供的技术方案 15.3.1结构 15.3.2原理 15.3.3优点 15.3.4具体步骤 第16章使用UVM sequence item对包含layered protocol的RTL设计进行验证的
简便方法
16.1背景技术方案及缺陷 16.1.1现有方案 16.1.2主要缺陷 16.2解决的技术问题 16.3提供的技术方案 16.3.1结构 16.3.2原理 16.3.3优点 16.3.4具体步骤 第17章应用于VIP的访问者模式方法 17.1背景技术方案及缺陷 17.1.1现有方案 17.1.2主要缺陷 17.2解决的技术问题 17.3提供的技术方案 17.3.1结构 17.3.2原理 17.3.3优点 17.3.4具体步骤 第18章设置UVM目标phase的额外等待时间的方法 18.1背景技术方案及缺陷 18.1.1现有方案 18.1.2主要缺陷 18.2解决的技术问题 18.3提供的技术方案 18.3.1结构 18.3.2原理 18.3.3优点 18.3.4具体步骤 第19章基于UVM验证平台的仿真结束机制 19.1背景技术方案及缺陷 19.1.1现有方案 19.1.2主要缺陷 19.2解决的技术问题 19.3提供的技术方案 19.3.1结构 19.3.2原理 19.3.3优点 19.3.4具体步骤 第20章记分板和断言检查相结合的验证方法 20.1背景技术方案及缺陷 20.1.1现有方案 20.1.2主要缺陷 20.2解决的技术问题 20.3提供的技术方案 20.3.1结构 20.3.2原理 20.3.3优点 20.3.4具体步骤 第21章支持错误注入验证测试的验证平台 21.1背景技术方案及缺陷 21.1.1现有方案 21.1.2主要缺陷 21.2解决的技术问题 21.3提供的技术方案 21.3.1结构 21.3.2原理 21.3.3优点 21.3.4具体步骤 第22章一种基于bind的ECC存储注错测试方法 22.1背景技术方案及缺陷 22.1.1现有方案 22.1.2主要缺陷 22.2解决的技术问题 22.3提供的技术方案 22.3.1结构 22.3.2原理 22.3.3优点 22.3.4具体步骤 第23章在验证环境中更优的枚举型变量的声明使用方法 23.1背景技术方案及缺陷 23.1.1现有方案 23.1.2主要缺陷 23.2解决的技术问题 23.3提供的技术方案 23.3.1结构 23.3.2原理 23.3.3优点 23.3.4具体步骤 第24章基于UVM方法学的SVA封装方法 24.1背景技术方案及缺陷 24.1.1现有方案 24.1.2主要缺陷 24.2解决的技术问题 24.3提供的技术方案 24.3.1结构 24.3.2原理 24.3.3优点 24.3.4具体步骤 第25章增强对SVA调试和控制的方法 25.1背景技术方案及缺陷 25.1.1现有方案 25.1.2主要缺陷 25.2解决的技术问题 25.3提供的技术方案 25.3.1结构 25.3.2原理 25.3.3优点 25.3.4具体步骤 第26章针对芯片复位测试场景下的验证框架 26.1背景技术方案及缺陷 26.1.1现有方案 26.1.2主要缺陷 26.2解决的技术问题 26.3提供的技术方案 26.3.1结构 26.3.2原理 26.3.3优点 26.3.4具体步骤 第27章采用事件触发的芯片复位测试方法 27.1背景技术方案及缺陷 27.1.1现有方案 27.1.2主要缺陷 27.2解决的技术问题 27.3提供的技术方案 27.3.1结构 27.3.2原理 27.3.3优点 27.3.4具体步骤 第28章支持多空间域的芯片复位测试方法 28.1背景技术方案及缺陷 28.1.1现有方案 28.1.2主要缺陷 28.2解决的技术问题 28.3提供的技术方案 28.3.1结构 28.3.2原理 28.3.3优点 28.3.4具体步骤 第29章对参数化类的压缩处理技术 29.1背景技术方案及缺陷 29.1.1现有方案 29.1.2主要缺陷 29.2解决的技术问题 29.3提供的技术方案 29.3.1结构 29.3.2原理 29.3.3优点 29.3.4具体步骤 第30章基于UVM的中断处理技术 30.1背景技术方案及缺陷 30.1.1现有方案 30.1.2主要缺陷 30.2解决的技术问题 30.3提供的技术方案 30.3.1结构 30.3.2原理 30.3.3优点 30.3.4具体步骤 第31章实现覆盖率收集代码重用的方法 31.1背景技术方案及缺陷 31.1.1现有方案 31.1.2主要缺陷 31.2解决的技术问题 31.3提供的技术方案 31.3.1结构 31.3.2原理 31.3.3优点 31.3.4具体步骤 第32章对实现覆盖率收集代码重用方法的改进 32.1背景技术方案及缺陷 32.1.1现有方案 32.1.2主要缺陷 32.2解决的技术问题 32.3提供的技术方案 32.3.1结构 32.3.2原理 32.3.3优点 32.3.4具体步骤 第33章针对相互依赖的成员变量的随机约束方法 33.1背景技术方案及缺陷 33.1.1现有方案 33.1.2主要缺陷 33.2解决的技术问题 33.3提供的技术方案 33.3.1结构 33.3.2原理 33.3.3优点 33.3.4具体步骤 第34章对随机约束程序块的控制管理及重用的方法 34.1背景技术方案及缺陷 34.1.1现有方案 34.1.2主要缺陷 34.2解决的技术问题 34.3提供的技术方案 34.3.1结构 34.3.2原理 34.3.3优点 34.3.4具体步骤 第35章随机约束和覆盖组同步技术 35.1背景技术方案及缺陷 35.1.1现有方案 35.1.2主要缺陷 35.2解决的技术问题 35.3提供的技术方案 35.3.1结构 35.3.2原理 35.3.3优点 35.3.4具体步骤 第36章在随机约束对象中实现多继承的方法 36.1背景技术方案及缺陷 36.1.1现有方案 36.1.2主要缺陷 36.2解决的技术问题 36.3提供的技术方案 36.3.1结构 36.3.2原理 36.3.3优点 36.3.4具体步骤 第37章支持动态地址映射的寄存器建模方法 37.1背景技术方案及缺陷 37.1.1现有方案 37.1.2主要缺陷 37.2解决的技术问题 37.3提供的技术方案 37.3.1结构 37.3.2原理 37.3.3优点 37.3.4具体步骤 第38章对寄存器突发访问的建模方法 38.1背景技术方案及缺陷 38.1.1现有方案 38.1.2主要缺陷 38.2解决的技术问题 38.3提供的技术方案 38.3.1结构 38.3.2原理 38.3.3优点 38.3.4具体步骤 第39章基于UVM存储模型的寄存器突发访问的建模方法 39.1背景技术方案及缺陷 39.1.1现有方案 39.1.2主要缺陷 39.2解决的技术问题 39.3提供的技术方案 39.3.1结构 39.3.2原理 39.3.3优点 39.3.4具体步骤 第40章寄存器间接访问的验证模型实现框架 40.1背景技术方案及缺陷 40.1.1现有方案 40.1.2主要缺陷 40.2解决的技术问题 40.3提供的技术方案 40.3.1结构 40.3.2原理 40.3.3优点 40.3.4具体步骤 第41章基于UVM的存储建模优化方法 41.1背景技术方案及缺陷 41.1.1现有方案 41.1.2主要缺陷 41.2解决的技术问题 41.3提供的技术方案 41.3.1结构 41.3.2原理 41.3.3优点 41.3.4具体步骤 第42章对片上存储空间动态管理的方法 42.1背景技术方案及缺陷 42.1.1现有方案 42.1.2主要缺陷 42.2解决的技术问题 42.3提供的技术方案 42.3.1结构 42.3.2原理 42.3.3优点 42.3.4具体步骤 42.3.5算法性能测试 42.3.6备注 第43章简便且灵活的寄存器覆盖率统计收集方法 43.1背景技术方案及缺陷 43.1.1现有方案 43.1.2主要缺陷 43.2解决的技术问题 43.3提供的技术方案 43.3.1结构 43.3.2原理 43.3.3优点 43.3.4具体步骤 第44章模拟真实环境下的寄存器重配置的方法 44.1背景技术方案及缺陷 44.1.1现有方案 44.1.2主要缺陷 44.2解决的技术问题 44.3提供的技术方案 44.3.1结构 44.3.2原理 44.3.3优点 44.3.4具体步骤 第45章使用C语言对UVM环境中寄存器的读写访问方法 45.1背景技术方案及缺陷 45.1.1现有方案 45.1.2主要缺陷 45.2解决的技术问题 45.3提供的技术方案 45.3.1结构 45.3.2原理 45.3.3优点 45.3.4具体步骤 第46章提高对寄存器模型建模代码可读性的方法 46.1背景技术方案及缺陷 46.1.1现有方案 46.1.2主要缺陷 46.2解决的技术问题 46.3提供的技术方案 46.3.1结构 46.3.2原理 46.3.3优点 46.3.4具体步骤 第47章兼容UVM的供应商存储IP的后门访问方法 47.1背景技术方案及缺陷 47.1.1现有方案 47.1.2主要缺陷 47.2解决的技术问题 47.3提供的技术方案 47.3.1结构 47.3.2原理 47.3.3优点 47.3.4具体步骤 47.3.5备注 第48章应用于芯片领域的代码仓库管理方法 48.1背景技术方案及缺陷 48.1.1现有方案 48.1.2主要缺陷 48.2解决的技术问题 48.3提供的技术方案 48.3.1结构 48.3.2原理 48.3.3优点 48.3.4具体步骤 第49章DPI多线程仿真加速技术 49.1背景技术方案及缺陷 49.1.1现有方案 49.1.2主要缺陷 49.2解决的技术问题 49.3提供的技术方案 49.3.1结构 49.3.2原理 49.3.3优点 49.3.4具体步骤 第50章基于UVM验证平台的硬件仿真加速技术 50.1背景技术方案及缺陷 50.1.1现有方案 50.1.2主要缺陷 50.2解决的技术问题 50.3提供的技术方案 50.3.1结构 50.3.2原理 50.3.3优点 50.3.4具体步骤
第1章可重用的UVM验证环境 1.1背景技术方案及缺陷 1.1.1现有方案 1.1.2主要缺陷 1.2解决的技术问题 1.3提供的技术方案 1.3.1结构 1.3.2原理 1.3.3优点 1.3.4具体步骤 第2章interface快速声明、连接和配置传递的方法 2.1背景技术方案及缺陷 2.1.1现有方案 2.1.2主要缺陷 2.2解决的技术问题 2.3提供的技术方案 2.3.1结构 2.3.2原理 2.3.3优点 2.3.4具体步骤 第3章在可重用验证环境中连接interface的方法 3.1背景技术方案及缺陷 3.1.1现有方案 3.1.2主要缺陷 3.2解决的技术问题 3.3提供的技术方案 3.3.1结构 3.3.2原理 3.3.3优点 3.3.4具体步骤 第4章支持结构体端口数据类型的连接interface的方法 4.1背景技术方案及缺陷 4.1.1现有方案 4.1.2主要缺陷 4.2解决的技术问题 4.3提供的技术方案 4.3.1结构 4.3.2原理 4.3.3优点 4.3.4具体步骤 第5章快速配置和传递验证环境中配置对象的方法 5.1背景技术方案及缺陷 5.1.1现有方案 5.1.2主要缺陷 5.2解决的技术问题 5.3提供的技术方案 5.3.1结构 5.3.2原理 5.3.3优点 5.3.4具体步骤 第6章对采用reactive slave方式验证的改进方法 6.1背景技术方案及缺陷 6.1.1现有方案 6.1.2主要缺陷 6.2解决的技术问题 6.3提供的技术方案 6.3.1结构 6.3.2原理 6.3.3优点 6.3.4具体步骤 第7章应用sequence反馈机制的激励控制方法 7.1背景技术方案及缺陷 7.1.1现有方案 7.1.2主要缺陷 7.2解决的技术问题 7.3提供的技术方案 7.3.1结构 7.3.2原理 7.3.3优点 7.3.4具体步骤 第8章应用uvm_tlm_analysis_fifo的激励控制方法 8.1背景技术方案及缺陷 8.1.1现有方案 8.1.2主要缺陷 8.2解决的技术问题 8.3提供的技术方案 8.3.1结构 8.3.2原理 8.3.3优点 8.3.4具体步骤 第9章快速建立DUT替代模型的记分板标准方法 9.1背景技术方案及缺陷 9.1.1现有方案 9.1.2主要缺陷 9.2解决的技术问题 9.3提供的技术方案 9.3.1结构 9.3.2原理 9.3.3优点 9.3.4具体步骤 第10章支持乱序比较的记分板的快速实现方法 10.1背景技术方案及缺陷 10.1.1现有方案 10.1.2主要缺陷 10.2解决的技术问题 10.3提供的技术方案 10.3.1结构 10.3.2原理 10.3.3优点 10.3.4具体步骤 第11章对固定延迟输出结果的RTL接口信号的monitor的简便方法 11.1背景技术方案及缺陷 11.1.1现有方案 11.1.2主要缺陷 11.2解决的技术问题 11.3提供的技术方案 11.3.1结构 11.3.2原理 11.3.3优点 11.3.4具体步骤 第12章监测和控制DUT内部信号的方法 12.1背景技术方案及缺陷 12.1.1现有方案 12.1.2主要缺陷 12.2解决的技术问题 12.3提供的技术方案 12.3.1结构 12.3.2原理 12.3.3优点 12.3.4具体步骤 第13章向UVM验证环境中传递设计参数的方法 13.1背景技术方案及缺陷 13.1.1现有方案 13.1.2主要缺陷 13.2解决的技术问题 13.3提供的技术方案 13.3.1结构 13.3.2原理 13.3.3优点 13.3.4具体步骤 第14章对设计与验证平台连接集成的改进方法 14.1背景技术方案及缺陷 14.1.1现有方案 14.1.2主要缺陷 14.2解决的技术问题 14.3提供的技术方案 14.3.1结构 14.3.2原理 14.3.3优点 14.3.4具体步骤 第15章应用于路由类模块设计的transaction调试追踪和控制的方法 15.1背景技术方案及缺陷 15.1.1现有方案 15.1.2主要缺陷 15.2解决的技术问题 15.3提供的技术方案 15.3.1结构 15.3.2原理 15.3.3优点 15.3.4具体步骤 第16章使用UVM sequence item对包含layered protocol的RTL设计进行验证的
简便方法
16.1背景技术方案及缺陷 16.1.1现有方案 16.1.2主要缺陷 16.2解决的技术问题 16.3提供的技术方案 16.3.1结构 16.3.2原理 16.3.3优点 16.3.4具体步骤 第17章应用于VIP的访问者模式方法 17.1背景技术方案及缺陷 17.1.1现有方案 17.1.2主要缺陷 17.2解决的技术问题 17.3提供的技术方案 17.3.1结构 17.3.2原理 17.3.3优点 17.3.4具体步骤 第18章设置UVM目标phase的额外等待时间的方法 18.1背景技术方案及缺陷 18.1.1现有方案 18.1.2主要缺陷 18.2解决的技术问题 18.3提供的技术方案 18.3.1结构 18.3.2原理 18.3.3优点 18.3.4具体步骤 第19章基于UVM验证平台的仿真结束机制 19.1背景技术方案及缺陷 19.1.1现有方案 19.1.2主要缺陷 19.2解决的技术问题 19.3提供的技术方案 19.3.1结构 19.3.2原理 19.3.3优点 19.3.4具体步骤 第20章记分板和断言检查相结合的验证方法 20.1背景技术方案及缺陷 20.1.1现有方案 20.1.2主要缺陷 20.2解决的技术问题 20.3提供的技术方案 20.3.1结构 20.3.2原理 20.3.3优点 20.3.4具体步骤 第21章支持错误注入验证测试的验证平台 21.1背景技术方案及缺陷 21.1.1现有方案 21.1.2主要缺陷 21.2解决的技术问题 21.3提供的技术方案 21.3.1结构 21.3.2原理 21.3.3优点 21.3.4具体步骤 第22章一种基于bind的ECC存储注错测试方法 22.1背景技术方案及缺陷 22.1.1现有方案 22.1.2主要缺陷 22.2解决的技术问题 22.3提供的技术方案 22.3.1结构 22.3.2原理 22.3.3优点 22.3.4具体步骤 第23章在验证环境中更优的枚举型变量的声明使用方法 23.1背景技术方案及缺陷 23.1.1现有方案 23.1.2主要缺陷 23.2解决的技术问题 23.3提供的技术方案 23.3.1结构 23.3.2原理 23.3.3优点 23.3.4具体步骤 第24章基于UVM方法学的SVA封装方法 24.1背景技术方案及缺陷 24.1.1现有方案 24.1.2主要缺陷 24.2解决的技术问题 24.3提供的技术方案 24.3.1结构 24.3.2原理 24.3.3优点 24.3.4具体步骤 第25章增强对SVA调试和控制的方法 25.1背景技术方案及缺陷 25.1.1现有方案 25.1.2主要缺陷 25.2解决的技术问题 25.3提供的技术方案 25.3.1结构 25.3.2原理 25.3.3优点 25.3.4具体步骤 第26章针对芯片复位测试场景下的验证框架 26.1背景技术方案及缺陷 26.1.1现有方案 26.1.2主要缺陷 26.2解决的技术问题 26.3提供的技术方案 26.3.1结构 26.3.2原理 26.3.3优点 26.3.4具体步骤 第27章采用事件触发的芯片复位测试方法 27.1背景技术方案及缺陷 27.1.1现有方案 27.1.2主要缺陷 27.2解决的技术问题 27.3提供的技术方案 27.3.1结构 27.3.2原理 27.3.3优点 27.3.4具体步骤 第28章支持多空间域的芯片复位测试方法 28.1背景技术方案及缺陷 28.1.1现有方案 28.1.2主要缺陷 28.2解决的技术问题 28.3提供的技术方案 28.3.1结构 28.3.2原理 28.3.3优点 28.3.4具体步骤 第29章对参数化类的压缩处理技术 29.1背景技术方案及缺陷 29.1.1现有方案 29.1.2主要缺陷 29.2解决的技术问题 29.3提供的技术方案 29.3.1结构 29.3.2原理 29.3.3优点 29.3.4具体步骤 第30章基于UVM的中断处理技术 30.1背景技术方案及缺陷 30.1.1现有方案 30.1.2主要缺陷 30.2解决的技术问题 30.3提供的技术方案 30.3.1结构 30.3.2原理 30.3.3优点 30.3.4具体步骤 第31章实现覆盖率收集代码重用的方法 31.1背景技术方案及缺陷 31.1.1现有方案 31.1.2主要缺陷 31.2解决的技术问题 31.3提供的技术方案 31.3.1结构 31.3.2原理 31.3.3优点 31.3.4具体步骤 第32章对实现覆盖率收集代码重用方法的改进 32.1背景技术方案及缺陷 32.1.1现有方案 32.1.2主要缺陷 32.2解决的技术问题 32.3提供的技术方案 32.3.1结构 32.3.2原理 32.3.3优点 32.3.4具体步骤 第33章针对相互依赖的成员变量的随机约束方法 33.1背景技术方案及缺陷 33.1.1现有方案 33.1.2主要缺陷 33.2解决的技术问题 33.3提供的技术方案 33.3.1结构 33.3.2原理 33.3.3优点 33.3.4具体步骤 第34章对随机约束程序块的控制管理及重用的方法 34.1背景技术方案及缺陷 34.1.1现有方案 34.1.2主要缺陷 34.2解决的技术问题 34.3提供的技术方案 34.3.1结构 34.3.2原理 34.3.3优点 34.3.4具体步骤 第35章随机约束和覆盖组同步技术 35.1背景技术方案及缺陷 35.1.1现有方案 35.1.2主要缺陷 35.2解决的技术问题 35.3提供的技术方案 35.3.1结构 35.3.2原理 35.3.3优点 35.3.4具体步骤 第36章在随机约束对象中实现多继承的方法 36.1背景技术方案及缺陷 36.1.1现有方案 36.1.2主要缺陷 36.2解决的技术问题 36.3提供的技术方案 36.3.1结构 36.3.2原理 36.3.3优点 36.3.4具体步骤 第37章支持动态地址映射的寄存器建模方法 37.1背景技术方案及缺陷 37.1.1现有方案 37.1.2主要缺陷 37.2解决的技术问题 37.3提供的技术方案 37.3.1结构 37.3.2原理 37.3.3优点 37.3.4具体步骤 第38章对寄存器突发访问的建模方法 38.1背景技术方案及缺陷 38.1.1现有方案 38.1.2主要缺陷 38.2解决的技术问题 38.3提供的技术方案 38.3.1结构 38.3.2原理 38.3.3优点 38.3.4具体步骤 第39章基于UVM存储模型的寄存器突发访问的建模方法 39.1背景技术方案及缺陷 39.1.1现有方案 39.1.2主要缺陷 39.2解决的技术问题 39.3提供的技术方案 39.3.1结构 39.3.2原理 39.3.3优点 39.3.4具体步骤 第40章寄存器间接访问的验证模型实现框架 40.1背景技术方案及缺陷 40.1.1现有方案 40.1.2主要缺陷 40.2解决的技术问题 40.3提供的技术方案 40.3.1结构 40.3.2原理 40.3.3优点 40.3.4具体步骤 第41章基于UVM的存储建模优化方法 41.1背景技术方案及缺陷 41.1.1现有方案 41.1.2主要缺陷 41.2解决的技术问题 41.3提供的技术方案 41.3.1结构 41.3.2原理 41.3.3优点 41.3.4具体步骤 第42章对片上存储空间动态管理的方法 42.1背景技术方案及缺陷 42.1.1现有方案 42.1.2主要缺陷 42.2解决的技术问题 42.3提供的技术方案 42.3.1结构 42.3.2原理 42.3.3优点 42.3.4具体步骤 42.3.5算法性能测试 42.3.6备注 第43章简便且灵活的寄存器覆盖率统计收集方法 43.1背景技术方案及缺陷 43.1.1现有方案 43.1.2主要缺陷 43.2解决的技术问题 43.3提供的技术方案 43.3.1结构 43.3.2原理 43.3.3优点 43.3.4具体步骤 第44章模拟真实环境下的寄存器重配置的方法 44.1背景技术方案及缺陷 44.1.1现有方案 44.1.2主要缺陷 44.2解决的技术问题 44.3提供的技术方案 44.3.1结构 44.3.2原理 44.3.3优点 44.3.4具体步骤 第45章使用C语言对UVM环境中寄存器的读写访问方法 45.1背景技术方案及缺陷 45.1.1现有方案 45.1.2主要缺陷 45.2解决的技术问题 45.3提供的技术方案 45.3.1结构 45.3.2原理 45.3.3优点 45.3.4具体步骤 第46章提高对寄存器模型建模代码可读性的方法 46.1背景技术方案及缺陷 46.1.1现有方案 46.1.2主要缺陷 46.2解决的技术问题 46.3提供的技术方案 46.3.1结构 46.3.2原理 46.3.3优点 46.3.4具体步骤 第47章兼容UVM的供应商存储IP的后门访问方法 47.1背景技术方案及缺陷 47.1.1现有方案 47.1.2主要缺陷 47.2解决的技术问题 47.3提供的技术方案 47.3.1结构 47.3.2原理 47.3.3优点 47.3.4具体步骤 47.3.5备注 第48章应用于芯片领域的代码仓库管理方法 48.1背景技术方案及缺陷 48.1.1现有方案 48.1.2主要缺陷 48.2解决的技术问题 48.3提供的技术方案 48.3.1结构 48.3.2原理 48.3.3优点 48.3.4具体步骤 第49章DPI多线程仿真加速技术 49.1背景技术方案及缺陷 49.1.1现有方案 49.1.2主要缺陷 49.2解决的技术问题 49.3提供的技术方案 49.3.1结构 49.3.2原理 49.3.3优点 49.3.4具体步骤 第50章基于UVM验证平台的硬件仿真加速技术 50.1背景技术方案及缺陷 50.1.1现有方案 50.1.2主要缺陷 50.2解决的技术问题 50.3提供的技术方案 50.3.1结构 50.3.2原理 50.3.3优点 50.3.4具体步骤
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UVM芯片验证技术案例集 作者简介
马骁，东南大学集成电路专业硕士，已申请芯片验证领域多个专利，网易云课堂“芯片验证：UVM理论与实战”“芯片验证：Python脚本理论与实战”等课程的作者。
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