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高频电子电路S参数测量与校准技术 版权信息
- ISBN：9787308239899
- 条形码：9787308239899 ; 978-7-308-23989-9
- 装帧：平装-胶订
- 册数：暂无
- 重量：暂无
- 所属分类：>>
高频电子电路S参数测量与校准技术 内容简介
散射参数(Scatter Parameter，简称S参数)是一种描述传输通道频域特性的参量，被用来表征被测器件的线性矢量参数频率响应特性，即幅频与相频特性，是射频微波领域*基本与*常用的核心指标参数之一。矢量网络分析仪作为测试8参数的**仪器，其性能非常关键，决定着测试结果的好坏。本书以图文并茂的方式深入浅出地介绍了S参数基本概念与发展历史、矢量网络分析仪结构与工作原理、性能指标解读与评判、各种s校准方法原理与优缺点、测试结果不确定度分析、自动测技术、使用技巧和注意事项、相关技术*新发展等。
高频电子电路S参数测量与校准技术 目录
第1章 S参数及其与其他参数矩阵问变换关系
1.1 S参数定义
1.2 S参数与Smith图
1.3 S参数与X参数关系
1.4 其他两端口矩阵及其与S参数变换关系
1.4.1 Z参数
1.4.2 Y参数
1.4.3 ABCD参数
1.4.4 H参数
1.4.5 T参数
1.5 各矩阵间变换关系
1.6 矩阵基本运算
1.7 其他基本数学公式
1.7.1 欧拉公式
1.7.2 复数根式运算
1.8 本章小结
参考文献
第2章 矢量网络分析仪简介
2.1 矢量网络分析仪关键参数指标
2.1.1 源参数指标
2.1.2 接收机参数指标
2.1.3 综合指标
2.2 S参数校准基本过程
2.3 本章小结
参考文献
第3章 校准标准件制造与建模
3.1 校准件分类与特点
3.1.1 同轴校准件
3.1.2 矩形波导校准件
3.1.3 在片校准件与射频探针
3.2 在片校准件制造关键点
3.2.1 衬底材料选择
3.2.2 负载标准件50Ω电阻精确控制
3.2.3 传输线特征阻抗50Ω精确控制
3.3 校准件质量对校准结果的影响
3.4 校准件数学模型
3.5 同轴数据基校准件的制备方法
3.6 本章小结
参考文献
第4章 信号流图与常用误差模型
4.1 信号流图基本原理
4.1.1 相关术语
4.1.2 Mason增益公式
4.2 常用S参数校准误差模型
4.2.1 单端口误差模型
4.2.2 两端口误差模型
4.2.3 多端口误差模型
4.3 本章小结
参考文献
第5章 S参数校准及去嵌原理
5.1 原始数据修正
5.1.1 开关项修正
5.1.2 隔离项修正
5.2 单端口校准方法
5.2.1 OSL校准方法
5.2.2 MOSL与RRR校准方法
5.2.3 OSL去嵌方法
5.3 两端口校准方法
5.3.1 SOLT（TOSM）方法族
5.3.2 TRL（LRL）方法族
5.3.3 LRM（TRM）方法族
5.3.4 16-SOLT-SVD校准方法
5.3.5 数据比对
5.3.6 两端口去嵌方法比较
5.4 多端口校准方法
5.4.1 多端口矢量网络分析仪基本原理
5.4.2 常见的多端口校准方法
5.4.3 差分参数校准
5.4.4 多端口去嵌方法
5.5 内插算法
5.6 高低温S参数校准
5.6.1 校准件参数动态补偿法
5.6.2 校准件恒温自校准方法
5.7 源功率校准与接收机功率校准
5.7.1 源功率校准
5.7.2 接收机功率校准
5.8 全自动在片校准与测试
5.9 本章小结
参考文献
第6章 校准结果判断与不确定度分析
6.1 校准前设置注意事项
6.1.1 系统连接情况
6.1.2 中频带宽
6.1.3 平均次数影响
6.1.4 数据平滑处理
6.1.5 测试功率
6.1.6 衰减器影响
6.1.7 连续与波脉冲
6.1.8 在片校准特殊注意事项
6.2 校准中注意事项
6.3 校准后结果工程判断方法
6.4 校准后结果定量判断方法——校准结果验证算法
6.5 残余误差计算与不确定度分析
6.5.1 残余误差计算
6.5.2 不确定度分析
6.6 本章小结
参考文献
第7章 校准时问稳定性提升方法
7.1 短期漂移
7.2 实例验证与分析
7.3 本章小结
参考文献
展开全部
高频电子电路S参数测量与校准技术 作者简介
郁发新教授浙江大学航天电子工程研究所所长、博士生导师，国家wr计划科技领军人才、国防科技卓越青年人才和国防科技创新团队牵头人。在射频模拟芯片领域具有扎实的理论基础和丰富的di一线研发经验，开发了大量通信、导航、雷达所用的高端射频模拟芯片，有效支撑了我国多个重点型号的装备，大力推动了我国高端射频模拟芯片技术快速发展。
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