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模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践(2021材料基金) 版权信息
- ISBN：9787576705454
- 条形码：9787576705454 ; 978-7-5767-0545-4
- 装帧：平装-胶订
- 册数：暂无
- 重量：暂无
- 所属分类：>>
模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践(2021材料基金) 内容简介
本书系统地介绍了辐射对电子系统的损伤机理，加固技术和实践，辐射测试技术等研宽内容，并阐述了抗辐射加固技术的发展趋势。第1章和第2章介绍了辐射环境与基本辐射效应，半导体器件的辐射效应损伤机理，并介绍了SiGe HBT BiCMOS工艺的辐射特性：第3~5章介绍了从工艺，版图和电路等方面进行抗辐射加固的技术：第6章针对模拟/混合信号集成电路加固技术的案例进行了研究：第7章和第8章介绍了模拟/混合信号集成电路辐射测试技术和抗辐射加固发展趋势。
模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践(2021材料基金) 目录
第1章 辐射环境与基本辐射效应
1.1 空间辐射环境
1.2 基本辐射效应
本章参考文献
第2章 半导体器件的辐射效应损伤机理
2.1 总剂量效应对半导体器件的损伤机理
2.2 单粒子效应对集成电路的损伤机理
2.3 CMOS工艺辐射效应机理
2.4 SiGe HBT BiCMOS工艺
本章参考文献
第3章 工艺抗辐射加固技术
3.1 CMOS工艺衬底选择
3.2 CMOS工艺氧化工序
3.3 CMOS三阱工艺
3.4 CMOS工艺尺寸对抗辐射性能的影响
3.5 双极工艺优化技术
本章参考文献
第4章 版图抗辐射加固技术
4.1 环栅晶体管
4.2 单粒子闩锁版图加固
4.3 SiGe HBT版图加固
本章参考文献
第5章 电路抗辐射加固技术
5.1 模拟电路加固技术
5.2 数字电路加固技术
5.3 系统级加固技术
本章参考文献
第6章 模拟／混合信号集成电路加固技术实践研究
6.1 单粒子效应的仿真及建模技术
6.2 总剂量效应的仿真及建模技术
6.3 辐射加固标准数字单元库的开发设计
6.4 带隙基准源加固设计
6.5 放大器与比较器加固设计
6.6 锁相环加固设计
6.7 模拟开关加固设计
6.8 A／D、D／A转换器的加固设计
本章参考文献
第7章 模拟／混合信号集成电路辐射测试技术
7.1 模拟／混合信号电路测试系统
7.2 总剂量测试
7.3 单粒子辐射测试
本章参考文献
第8章 模拟／混合信号集成电路抗辐射加固发展趋势
8.1 需求分析
8.2 现状分析
8.3 发展趋势及挑战
本章参考文献
名词索引
附录 部分彩图
展开全部
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