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数控系统PCB可靠性试验及其统计分析 版权信息
- ISBN:9787576822090
- 条形码:9787576822090 ; 978-7-5768-2209-0
- 装帧:一般胶版纸
- 册数:暂无
- 重量:暂无
- 所属分类:>
数控系统PCB可靠性试验及其统计分析 内容简介
本书系统介绍了数控系统PCB的可靠性研究历史与现状,对PCB可靠性试验和PCB失效研究现状等进行了分析论述,提出了数控系统PCB在可靠性建模与可靠性试验过程中需要解决的关键技术问题。进一步地,通过PCB的失效物理/化学分析,得到电化学迁移(ECM)是PCB绝缘失效的主要原因,ECM会使绝缘体处于离子导电状态,绝缘体绝缘性能发生退化,继而发生短路等故障,为可靠性建模和可靠性试验提供理论支撑;同时,在数控系统PCB性能失效分析过程中,通过分析PCB性能失效特征量,确立数控系统PCB的失效判据,为数控系统PCB可靠性试验和失效分析提供依据;并且,通过数学统计分析,建立了数控系统PCB的寿命分布模型,为数控系统PCB可靠性评估奠定基础。
数控系统PCB可靠性试验及其统计分析 目录
数控系统PCB可靠性试验及其统计分析 作者简介
解传宁,女,山东烟台人,工学博士,毕业于华中科技大学,烟台大学机电汽车工程学院副教授。主要研究方向为数控系统及其零部件的失效分析、可靠性试验、可靠性评估与预测方法等研究。以第一作者发表多篇相关论文,其中SCI/EI检索5篇,授权发明专利2项,获得软件著作权3项,参与起草国家标准1项并已实施;主持国家自然科学基金青年基金1项、山东省自然科学基金1项,参与国家自然科学基金青年科学基金项目、国家自然科学基金面上项目、山东省自然科学基金面上项目等。
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