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LABVIEW与天线测量技术

作者：马玉丰

出版社：西安电子科技大学出版社出版时间：2023-05-01

开本：其他页数： 264

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版权信息
内容简介
目录

LABVIEW与天线测量技术版权信息

ISBN：9787560668413
条形码：9787560668413 ; 978-7-5606-6841-3
装帧：平装
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：
工业技术
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LABVIEW与天线测量技术内容简介

本书介绍了LabVIEW在天线测试领域中的使用经验与相关程序代码，筛选并介绍了一些关键函数的使用方法，从基础到实践对天线测试系统采集与分析软件进行了源码解析，同时介绍了天线测试和天线测试系统集成知识，可帮助读者快速进入天线测试系统集成与软件开发的世界。本书共15章，分为三篇。第1章至第10章为基础篇，介绍了LabVIEW的基础知识，包括认识LabVIEW，启动界面、前面板与菜单，数据格式，循环与事件结构，文件I/O，画图与显示，MAX与仪器驱动、接口，VI显示设置与美化，程序代码的保护，生成可执行与安装程序。第11章、第12章为提高篇，给出了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章至第15章为高级篇，介绍了天线测试系统集成相关知识。本书通过对这三篇内容的讲解，可帮助读者了解天线测试参数与天线测试系统的组成、天线测试系统的工作原理、设计天线测试系统的关键知识，这些都是天线测试系统集成与软件工程师的**常识。本书可作为高等学校天线测试、测量等专业的教材，也可作为科研院所天线测试与天线测试系统集成工程师和对天线测试感兴趣的读者的学习参考书。

LABVIEW与天线测量技术目录

基础篇第1章认识LabVIEW 1.1 LabVIEW的概念 1.2 LabVIEW 2018的安装 1.3 开启LabVIEW程序之旅第2章启动界面、前面板与菜单 2.1 启动界面 2.2 前面板和程序框图 2.3 菜单栏与工具栏 2.4 选板 2.5 程序结构与子VI 2.5.1 创建子VI 2.5.2 调用子VI 2.6 运行与调试程序第3章数据格式 3.1 数值 3.2 布尔 3.3 字符串与路径 3.4 数组 3.5 其他数据类型 3.6 错误输入与输出 3.7 MATLAB数据接口第4章循环与事件结构 4.1 循环 4.1.1 for循环 4.1.2 while循环 4.1.3 定时循环 4.2 事件结构 4.2.1 事件结构与while循环 4.2.2 条件结构、顺序结构与程序框图禁用结构第5章文件 5.1 写入与读取电子表格数据文件 5.2 写入与读取文本文件 5.3 文件的路径设置 5.4 配置文件 5.4.1 写配置文件 5.4.2 读配置文件第6章画图与显示 6.1 Express XY图 6.2 属性节点 6.3 强度图 6.4 列表框第7章 MAX与仪器驱动、接口 7.1 网络接口与仪器控制 7.1.1 添加仪表地址 7.1.2 测试通信协议 7.2 GPIB接口与仪器控制 7.3 编写基础的仪表控制程序 7.4 调用动态链接库函数 7.4.1 使用“调用库函数节点”调用库函数 7.4.2 使用“.NET”构造器调用库函数第8章 VI显示设置与美化 8.1 VI属性设置 8.1.1 常规 8.1.2 内存使用 8.1.3 编辑器选项 8.1.4 保护 8.1.5 窗口外观 8.1.6 窗口大小 8.1.7 窗口运行时的位置 8.1.8 执行 8.2 使用工具选板的颜色 8.3 合理化使用修饰与窗格属性 8.4 不同的前面板控件风格及对齐排布第9章程序代码的保护 9.1 绑定计算机 9.2 使用硬件锁第10章生成可执行与安装程序 10.1 可执行程序 10.2 安装程序提高篇第11章天线测试系统采集软件源码解析 11.1 软件要求与设计思路 11.1.1 软件要求 11.1.2 设计思路 11.2 文件与仪器配置 11.3 源与RTC控制 11.3.1 测试频率列表设置 11.3.2 网络分析仪控制子VI的编写 11.4 RTC控制编程 11.5 转台控制编程 11.6 扫描架控制编程 11.7 定点采集的实现 11.8 扫描设置 11.9 全局变量的传递 11.10 工程文件 11.10.1 保存配置文件 11.10.2 导入配置文件 11.11 近场测试 11.11.1 初始化测试参数 11.11.2 运行扫描架 11.11.3 实时采集显示 11.11.4 位置实时显示 11.12 远场测试 11.13 退出软件 11.14 修饰及美化第12章天线测试系统分析软件源码解析 12.1 软件要求与设计思路 12.1.1 软件要求 12.1.2 设计思路 12.2 文件与绘图选择 12.2.1 添加文件 12.2.2 添加绘图数据 12.3 绘图 12.3.1 切面图 12.3.2 三维图 12.3.3 强度图 12.4 数据分析 12.4.1 副瓣电平分析 12.4.2 波束宽度 12.5 数据处理 12.5.1 圆极化合成 12.5.2 轴比处理 12.5.3 增益高级篇第13章天线测试参数基本知识 13.1 电性能参数 13.1.1 方向图 13.1.2 副瓣电平 13.1.3 半功率波束宽度 13.1.4 增益 13.1.5 极化 13.1.6 轴比 13.1.7 交叉极化隔离度 13.2 端口测试参数 13.2.1 输入阻抗 13.2.2 电压驻波比 13.2.3 反射系数 13.2.4 回波损耗 13.2.5 Open Short Load校准方法第14章天线测试系统认知 14.1 测试系统分类 14.1.1 近场 14.1.2 远场 14.2 测试系统组成 14.2.1 信号源 14.2.2 接收机 14.2.3 转台与扫描架 14.2.4 系统多任务控制器 14.2.5 通用射频器件 14.3 测试系统原理 14.3.1 内外混频 14.3.2 锁相环 14.3.3 触发与扫频 14.3.4 多波位自动测试第15章天线测试系统集成设计认知 15.1 测试系统设计 15.1.1 总体布局 15.1.2 链路设计 15.1.3 系统动态计算 15.1.4 控制设计 15.2 测试系统验收 15.2.1 机械测量验收 15.2.2 方向图的验收测试参考文献

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