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微电子学、集成电路（IC）

集成电路器件抗辐射加固设计技术

作者：闫爱斌，倪天明，黄正峰，崔杰

出版社：科学出版社出版时间：2023-03-01

开本： B5 页数： 224

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集成电路器件抗辐射加固设计技术版权信息

ISBN：9787030747143
条形码：9787030747143 ; 978-7-03-074714-3
装帧：平装
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：
工业技术
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集成电路器件抗辐射加固设计技术本书特色

本书将重点系统性地介绍专门针对集成电路若干器件的新型抗辐射加固设计技术的*新研究成果，方便相关研究人员对该领域快速入门，从而为推动国家集成电路抗辐射设计的发展添砖加瓦。

集成电路器件抗辐射加固设计技术内容简介

本书从集成电路器件可靠性问题出发，结合作者在集成电路可靠性设计领域的多年科研实践成果，阐述了辐射环境、辐射效应、软错误和仿真工具等背景知识，详细介绍了常用的抗辐射加固设计技术及组件，重点针对锁存器、主从触发器、SRAM存储单元和表决器介绍了经典的和新颖的抗辐射加固技术等。

集成电路器件抗辐射加固设计技术目录

目录前言　第1章　绪论　1　1.1　辐射环境　2　1.1.1　自然辐射环境　2　1.1.2　人造辐射环境　6　1.2　辐射效应　6　1.2.1　单粒子效应　6　1.2.2　累积效应　9　1.3　重要概念　9　1.3.1　故障、错误与失效　9　1.3.2　软错误　10　1.4　软错误模型　10　1.4.1　器件级模型　10　1.4.2　电路级模型　11　1.5　电子设计自动化仿真工具　12　1.5.1　Synopsys HSPICE　12　1.5.2　Cadence Virtuoso　13　1.6　基于RHBD技术的集成电路器件存在的问题　14　1.7　本章小结　14　第2章　常用的抗辐射加固设计技术及组件　15　2.1　常用的抗辐射加固设计技术　15　2.1.1　空间冗余技术　15　2.1.2　时间冗余技术　16　2.2　常用的抗辐射加固组件　18　2.2.1　C单元　18　2.2.2　1P2N和2P1N单元　21　2.2.3　DICE单元　22　2.2.4　施密特反相器　24　2.3　抗辐射能力的定义　25　2.4　本章小结　27　第3章　表决器的抗辐射加固设计技术　28　3.1　传统的表决器设计　28　3.2　基于多级C单元的表决器设计　29　3.2.1　电路结构与工作原理　30　3.2.2　实验验证与对比分析　37　3.3　基于电流竞争的表决器设计　39　3.3.1　电路结构与工作原理　40　3.3.2　表决器的应用　42　3.3.3　实验验证与对比分析　46　3.4　本章小结　56　第4章　锁存器的抗辐射加固设计技术　57　4.1　未加固的标准静态锁存器设计　57　4.2　经典的抗辐射加固锁存器设计　58　4.2.1　抗单节点翻转的锁存器设计　58　4.2.2　抗双节点翻转的锁存器设计　62　4.2.3　抗三节点翻转的锁存器设计　70　4.2.4　过滤SET脉冲的锁存器设计　74　4.3　单节点翻转自恢复的RFC锁存器设计　79　4.3.1　电路结构与工作原理　79　4.3.2　实验验证与对比分析　80　4.4　抗双/三节点翻转的锁存器设计　85　4.4.1　HSMUF双容锁存器　86　4.4.2　基于浮空点的双容锁存器　89　4.4.3　超低开销的LCDNUT/LCTNUT锁存器　96　4.4.4　恢复能力增强的DNUCT/TNUCT锁存器　102　4.4.5　完全三恢的锁存器　110　4.5　过滤SET脉冲的锁存器设计　111　4.5.1　PDFSR锁存器　111　4.5.2　RFEL锁存器　116　4.6　本章小结　126　第5章　主从触发器的抗辐射加固设计技术　127　5.1　未加固的主从触发器设计　127　5.2　经典的抗辐射加固主从触发器设计　128　5.3　抗节点翻转主从触发器设计　130　5.3.1　电路结构与工作原理　130　5.3.2　实验验证与对比分析　134　5.4　本章小结　145　第6章　SRAM单元的抗辐射加固设计技术　146　6.1　未加固的SRAM存储单元设计　146　6.1.1　6TSRAM　146　6.1.2　8TSRAM　148　6.2　经典的抗辐射加固SRAM存储单元设计　149　6.2.1　抗单节点翻转的SRAM存储单元设计　149　6.2.2　抗双节点翻转的16T SRAM存储单元设计　163　6.3　抗单节点翻转的SRAM存储单元设计　164　6.3.1　QCCM10T/QCCM12T SRAM　164　6.3.2　QCCS/SCCS SRAM　173　6.3.3　SRS14T/SESRS SRAM　183　6.4　抗双节点翻转的SRAM存储单元设计　193　6.4.1　电路结构与工作原理　193　6.4.2　实验验证与对比分析　200　6.5　本章小结　206　参考文献　207

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