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X射线光电子能谱数据分析 版权信息
- ISBN：9787576318210
- 条形码：9787576318210 ; 978-7-5763-1821-0
- 装帧：一般胶版纸
- 册数：暂无
- 重量：暂无
- 所属分类：>
X射线光电子能谱数据分析 内容简介
X射线光电子能谱（XPS）应用广泛，是目前*常用的表面分析技术之一。全书共4章，分为X射线光电子能谱基础篇、数据分析基础篇、数据分析软件篇和数据分析实战篇，不但内容详实全面，而且还有大量分析案例，是作者多年宝贵的经验总结。本书主要为涉及X射线光电子能谱的研究人员编写。可供材料、化学化工、物理等相关专业的本科生、研究生、教师以及科研人员、技术人员作为教材、工具书和使用手册，在教学科研中具有重要的指导意义与参考价值。
X射线光电子能谱数据分析 目录
第1章 X射线光电子能谱理论篇
1.1 X射线光电子能谱基本原理
1.2 XPS全谱信息与精细谱化学态识别
1.2.1 XPS全谱信息
1.2.2 XPS精细谱化学态识别
1.2.3 结合能位移与化学态
1.3 XPS系统硬件构成
1.4 XPS主要功能
1.5 XPS主要技术特点
1.5.1 各种分析技术的分辨率和灵敏度
1.5.2 几种表面分析技术的对比
1.5.3 XPS分析技术探测信息深度
1.6 XPS的主要应用
1.7 XPS样品制备与要求
1.7.1 XPS样品准备与包装
1.7.2 XPS样品托的选择
1.7.3 XPS样品制备与固定
1.7.4 样品传送管保护进样
第2章 X射线光电子能谱数据分析基础篇
2.1 XPS的主要数据形式
2.1.1 标准的XPS图谱
2.1.2 XPS的半定量分析
2.1.3 微区分析（多点分析和微区成像）
2.1.4 微区化学态成像
2.1.5 深度剖析
2.2 认识谱图和谱峰识别
2.2.1 谱峰标注
2.2.2 光电子谱峰中的非弹性背底
2.2.3 自旋-轨道分裂峰
2.2.4 不同元素的光电子与电离截面的关系
2.2.5 震激峰/震离峰
2.2.6 多重分裂峰
2.2.7 能量损失谱峰
2.2.8 XPS图谱中的俄歇激发
2.2.9 价带谱
2.2.10 X射线卫星峰和“鬼峰”
2.3 XPS图谱的定性和半定量分析
2.3.1 典型XPS图谱数据
2.3.2 XPS全谱和精细谱的意义
2.3.3 全谱定性和定量分析
2.3.4 精细谱定性和定量分析
2.3.5 XPS半定量分析注意事项
2.4 XPS数据处理（精细谱分峰拟合）通用原则
2.4.1 XPS谱峰荷电校正方法
2.4.2 XPS谱峰平滑
2.4.3 XPS谱峰背底扣除
2.4.4 XPS谱峰拟合数学函数模式选择
2.4.5 XPS单峰拟合
2.4.6 双峰中自旋-轨道分裂峰的分析方法
2.4.7 重合谱峰的拟合方法
2.4.8 多重分裂谱峰的分峰方法
2.4.9 俄歇图谱和俄歇参数判断化学态
2.4.10 常见XPS数据分析错误案例
2.4.11 XPS数据分析流程总结
2.5 数据库和网站资源介绍
2.6 XPS相关标准和规范
第3章 X射线光电子能谱数据分析软件篇
3.1 数据分析软件简介
3.2 不同数据文件格式
3.3 MultiPak软件基本介绍
3.3.1 MultiPak软件界面介绍
3.3.2 数据文件格式类型
3.4 MultiPak数据分析处理流程和操作步骤
3.4.1 定性分析
3.4.2 定量分析
3.4.3 化学态分析
3.4.4 深度剖析
3.4.5 变角分析
3.4.6 图像（Mapping）分析
3.4.7 线扫描分析
3.4.8 报告制作
3.5 MultiPak实操案例
3.5.1 常规表面分析案例
3.5.2 深度剖析实操案例
第4章 X射线光电子能谱数据分析实战篇
4.1 锂（Li）
4.2 铍（Be）
4.3 硼（B）
4.4 碳（C）
4.5 氮（Ｎ）
4.6 氧（O）
4.7 氟（F）
4.8 钠（Na）
4.9 镁（Mg）
4.10 铝（Al）
4.11 硅（Si）
4.12 磷（P）
4.13 硫（S）
4.14 氯（C1）
4.15 氩（Ar）
4.16 钾（K）
4.17 钙（Ca）
4.18 钪（Sc）
4.19 钛（Ti）
4.20 钒（V）
4.21 铬（Cr）
4.22 锰（Mn）
4.23 铁（Fe）
4.24 钴（Co）
4.25 镍（Ni）
4.26 铜（Cu）
4.27 锌（Zn）
4.28 镓（Ga）
4.29 锗（Ge）
4.30 砷（As）
4.31 硒（Se）
4.32 溴（Br）
4.33 铷（Rb）
4.34 锶（Sr）
4.35 钇（Y）
4.36 锆（Zr）
4.37 铌（Nb）
4.38 钼（Mo）
4.39 钌（Ru）
4.40 铑（Rh）
4.41 钯（Pd）
4.42 银（Ag）
4.43 镉（Cd）
4.44 铟（In）
4.45 锡（Sn）
4.46 锑（Sb）
4.47 碲（Te）
4.48 碘（I）
4.49 铯（Cs）
4.50 钡（Ba）
4.51 镧（La）
4.52 铈（Ce）
4.53 钕（Nd）
4.54 铕（Eu）
4.55 钆（Gd）
4.56 铪（Hf）
4.57 钽（Ta）
4.58 钨（W）
4.59 铼（Re）
4.60 铱（Ir）
4.61 铂（Pt）
4.62 金（Au）
4.63 汞（Hg）
4.64 铊（T1）
4.65 铅（Pb）
4.66 铋（Bi）
4.67 铀（U）
参考文献
附录
展开全部
X射线光电子能谱数据分析 作者简介
宋廷鲁，男，北京理工大学材料学院，实验师、高级工程师。先后从事耐火材料改性研究，高能复合材料改性应用研究，人工影响天气催化技术及工程化应用，高分子阻燃材料和火安全技术评价，表面分析实验技术研究，先进表征分析技术在公安刑侦应用研究等。主持或参与重大科研项目、实验室研究项目及横向课题20余项，发表论文60余篇，第一作者或通讯作者22篇，授权专利4项，兼任北京市化工标准化技术委员会委员、上海市塑料工程技术学会标准评审专家、中国材料与试验团体标准技术委员会评审专家等职务。目前研究方向为高分子材料、阻燃材料、功能材料以及材料分析测试表征技术。
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