包邮材料分析原理与应用

作者：多树旺,谢东柏

出版社：冶金工业出版社出版时间：2021-06-01

开本：其他页数： 344

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作者简介

材料分析原理与应用版权信息

ISBN：9787502488031
条形码：9787502488031 ; 978-7-5024-8803-1
装帧：一般胶版纸
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：
工业技术
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一般工业技术

材料分析原理与应用内容简介

本书在编写过程中对理论的讲述尽量简明扼要，从分析仪器的结构和工作原理出发，介绍分析方法的原理和适用范围，针对具体分析实例并与实践教学相结合，来强调理论的实际应用，以方便学生在学习过程中对方法的掌握，使学生能学会从晶体学原理将所介绍的材料微观分析方法应用到材料的实际分析中。本书介绍了用X射线衍射、电子显微技术、光学显微镜及光谱分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法，主要内容分为三篇共十八章分别为：X射线的物理基础、X射线衍射的晶体学基础、X射线的衍射强度、电子的衍射、X射线衍射的分析方法、X射线的物相分析

材料分析原理与应用目录

**篇X射线分析0绪论301材料分析的主要内容302材料分析的主要原理4021组织形貌微观结构分析4022晶体物相分析4023成分和价键(电子)结构分析4024分子结构分析403本书的结构和特点51X射线的物理基础611X射线的性质612X射线的产生813X射线谱9131连续X射线谱9132特征X射线谱914X射线与物质的相互作用13141X射线的散射现象14142X射线的真吸收和衰减15143X射线的吸收方式17练习题182X射线衍射的晶体学基础1921晶体的结构19211晶体与非晶体19212晶体结构与空间点阵20213三种典型的金属晶体结构2122晶体点阵的描述24221晶格的晶面、晶向及其表示方法24222晶带27223晶面间距28224晶面夹角3023晶体的各向异性3124倒易点阵31241倒易点阵的定义32242倒易点阵矢量32243倒易球(多晶体倒易点阵)3225衍射的几何条件33251劳厄方程34252布拉格方程35253爱瓦尔德图解法38 练习题393X射线的衍射强度4031单个电子对X射线的散射4032单个原子对X射线的散射4133单个晶胞对X射线的散射42331结构因子公式的推导43332结构因子与系统消光4434理想小晶体的衍射强度4535实际小晶粒的衍射强度4636粉末多晶衍射的积分强度47361参加衍射的晶粒数目对积分强度的影响47362多重性因子47363单位弧长的积分强度48364温度因数48365吸收因子4937多晶体衍射的积分强度公式50练习题514电子的衍射5241电子衍射的特点5242电子衍射的原理53421选区电子衍射53422理论相机常数53423有效相机常数54424相机常数的测定方法5543电子衍射花样的标定56431单晶体衍射花样的标定56432多晶体衍射花样的标定60433非晶体衍射花样的标定6144钢中典型组成相的电子衍射花样标定62441马氏体衍射花样的标定62442残余奥氏体电子衍射花样的标定63443渗碳体电子衍射花样的标定6445复杂电子衍射花样的标定66451高阶劳厄斑的标定66 452超点阵斑点的标定66453二次衍射斑点的标定68454孪晶斑点的标定68455菊池衍射花样的标定7046电子衍射的计算机分析71练习题725X射线衍射的分析方法7451照相法74511照相法原理74512德拜相机75513衍射花样的指数标定79514聚焦法简介8152衍射仪法82521X射线衍射仪成像原理82522辐射探测器83523计数测量方法与参数选择8453劳埃法84531成像原理85532衍射花样特征85533劳厄花样的指数标定8654周转晶体法8755粉末法88练习题896X射线的物相分析9061物相分析9062定性分析的理论基础9063定性分析的发展9164粉末衍射文件卡片9165粉末衍射文件索引92651哈纳瓦特数值索引93652芬克数值索引93653字母索引9466定性分析的过程及举例94661分析过程94662分析实例9567定性分析的难点97671误差97672成分过少97673其他困难9768定量分析97 681理论基础98682单线条法98683内标法99684K值法及参比强度法99685直接对比法10069常用X射线物相分析软件101练习题1027应力的测定10371宏观残余应力10372宏观应力测量的基本原理103721单轴应力测量104722平面应力测量10573宏观应力测试方法109731同倾法109732侧倾法113733定峰方法11474宏观应力测定的影响因素116741试样表面状态116742晶粒大小择优取向116743X射线波长的选择116744吸收因子和角因子矫正116745应力常数K111775宏观应力测定的其他方法117751中子衍射法117752超声波法118753磁性法11876微观应力及晶粒大小的测定119761微观应力的测定119762晶粒尺寸的测定119练习题1208点阵常数的精确测定12181测量原理及方法121811误差源分析121812测量方法12182非晶态物质124821非晶态物质的表征及结构常数124 822非晶态物质的晶化12683膜厚的测量12884织构及其表征129841织构的分类129842织构的表征129843丝织构的测定131844板织构的测定133845反极图的测定137练习题1389能谱分析技术14091俄歇电子能谱(AES)140911俄歇电子的物理原理140912俄歇能谱仪的工作原理140913俄歇电子能谱仪的组成141914俄歇电子能谱的应用142915样品的制备14492X射线光电子能谱(XPS)145921XPS分析145922XPS技术原理145923XPS系统的结构146924XPS的应用14793X射线荧光光谱(XFS)149931XFS物理原理149932XFS设备结构150933XFS样品分析152练习题15210电子探针显微分析153101电子探针显微分析(EPMA)1531011电子探针仪的原理1531012电子探针仪的结构154102能谱仪分析(EDS)1551021能谱仪的原理1551022能谱仪的分析特点155 1023能谱仪的功能156103波谱仪分析(WDS)1601031波谱仪的原理1601032波谱仪的结构1601033试样的制备1611034波谱仪的功能162104电子探针显微分析(EPMA)技术的应用1621041元素含量的分析1621042焊接热影响区分析1641043合金元素扩散行为分析165练习题167第二篇电子显微分析11扫描电子显微镜171111SEM的原理171112SEM的结构1721121电子光学系统1731122信号检测和扫描显示系统1741123真空和电源系统175113SEM的分类1761131场发射扫描电镜(FESEM)1761132低真空扫描电镜(环境扫描电镜ESEM)1761133低电压扫描电镜(LVSEM)176114SEM的性能1771141分辨率1771142放大倍数1781143景深1781144加速电压178115SEM的应用179116SEM的形貌观察1801161表面形貌衬度原理1801162二次电子成像原理1811163二次电子成像182 1164背散射电子像成像原理1831165背散射电子像184117样品制备1841171粉体1851172块体1851173高分子材料1851174导电膜的沉积1861175样品的清洗1861176截面的抛光186118扫描透射电子显微镜(STEM)1871181STEM的特点1871182STEM的原理1871183电子能量损失谱(EELS)1881184STEM的应用188练习题19012透射电子显微镜191121透射电子显微镜系统结构与原理191122电磁透镜1931221电磁透镜的原理1931222电磁透镜的聚集原理1931223电磁透镜的像差1951224电磁透镜的球差1951225电磁透镜的像散1961226电磁透镜的色差1961227电磁透镜的景深与焦长198123透射电镜的分辨率1991231点分辨率的测定1991232晶格分辨率200124电子光学系统2011241照明系统2011242成像系统2021243观察记录系统203125主要附件2041251样品台204 1252电子束的平移和倾斜装置2041253消像散器2051254光阑206126透射电镜的电子衍射2071261有效相机参数2071262选区电子衍射2081263常见的电子衍射花样208127透射电镜的图像衬度2121271衬度的概念与分类2121272衍射衬度213128透射电镜样品的制备2141281基本要求2151282薄膜样品的制备过程215129纳米孪晶铜的TEM表征216练习题21813探针电子显微镜分析技术220131原子力显微镜2201311AFM的工作原理2201312AFM工作模式2211313AFM的应用222132扫描隧道显微镜(STM)2241321STM的原理2241322STM的基本结构2241323STM的工作模式2251324扫描隧道谱2261325STM的应用226133场离子显微镜(FIM)2271331场离子显微镜的成像2281332场离子显微镜的应用229练习题23014其他显微分析技术231141电子背散射衍射系统(EBSD)231 1411EBSD技术的特点2311412EBSD系统工作原理2321413电子背散射衍射花样(菊池花样)2321414EBSD的分辨率2331415EBSD试样的制备2341416EBSD技术的应用234142离子探针(SIMS)2391421离子探针的基本原理2391422离子探针系统的结构2401423离子探针的应用241143低能电子衍射(LEED)2411431低能电子衍射基本原理2421432低能电子衍射花样的特征2431433低能电子衍射的应用243练习题24415光谱分析技术245151光谱的形成245152光谱的分类246153原子吸收光谱246154原子吸收分光光度计247155紫外可见吸收光谱2471551电子跃迁类型2471552朗伯—比尔定律2481553紫外可见吸收光谱仪2481554影响因素249156红外光谱2501561红外光谱与分子振动2501562红外光谱仪2511563红外光谱分析法2521564样品制备253157拉曼光谱2541571拉曼光谱仪255 1572拉曼光谱的应用256158分子发光光谱2571581荧光和磷光的产生2571582分子非辐射弛豫和辐射弛豫2571583荧光和磷光分析仪258159核磁共振光谱2581591核磁共振的基本原理2591592核磁共振波谱仪2601593核磁共振图谱260练习题261第三篇光学金相显微分析16传统光学显微镜265161透镜的成像原理2651611光的折射2651612光的衍射266162光学透镜的像差和分辨率2681621球差2681622像场弯曲2681623色差2681624透镜的分辨率270163金相显微镜2701631工作原理2701632物镜简介2711633目镜2721634照明系统2731635设备结构275164金相分析方法2761641样品的制备2761642金相组织的显示2791643金相组织分析281练习题28217先进光学显微镜技术283171金相的偏振光分析2831711偏振光2831712偏振光金相显微镜2871713偏振光金相分析原理288 172金相的干涉光分析2891721干涉光2891722干涉显微镜原理292173相衬金相分析2941731相衬分析原理2941732相衬显微镜296练习题29718金相的定量分析298181定量金相的基本符号298182分析原理299183定量金相的测量3011831PP的测量3011832PL的测量3011833PA的测量3021834NL的测量3021835NA的测量3021836LL的测量3031837AA的测量303184定量金相应用举例3031841晶粒大小的测定3031842第二相粒子特征参数的测定3041843线长度3041844片层组织中各种特征参数的测量3051845多相合金中各组成相相对量的测定306185定量金相测试时的误差306186图像分析仪定量金相分析307练习题308附录309附录1物理常数309附录2特征X射线的波长和能量表309附录3原子散射因数f312附录4质量吸收系数μ1ρ313附录5立方系晶面间夹角314附录6立方与六方晶体可能出现的反射317 附录7各种点阵的结构因数F2HKL318附录8粉末法的多重性因数Phkl318附录9角因数1cos22θsin2θcosθ318附录10某些物质的特征温度e321附录11德拜函数(x)x14321附录12应力测定常数322附录1312cos2θsinθcos2θθ的数值322参考文献325

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材料分析原理与应用作者简介

多树旺，男，1999年毕业于东北大学材料与冶金学院，2004年在金属所沈阳材料科学国家实验室获得工学博士学位。2010年至2011年为浙江大学材料科学与工程系材料科学与工程博士后流动站工作。博士毕业后一直在江西科技师范大学工作，二级教授。现任江西省材料表面工程重点实验室副主任，材料与机电学院副院长，江西省井冈学者特聘教授，江西省中青年学科带头人，江西省青年科学家培养对象,江西省百千万人才工程人选。一直从事纳米功能材料和太阳能电池、光催化新能源材料的设计合成及应用研究。获江西省高校科技成果二等奖、三等奖各一项。主持国家自然科学基金三项，省级项目10余项。目前已发表学术论文100余篇，并申请国家发明专利5项，中国硅酸盐学会无机材料分析测试技术分会理事，中国体视学会金相与显微分析分会理事。

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