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公差配合与技术测量

公差配合与技术测量

作者:薛庆红
出版社:高等教育出版社出版时间:2021-05-01
开本: 16开 页数: 200
本类榜单:工业技术销量榜
中 图 价:¥15.9(4.3折) 定价  ¥37.0 登录后可看到会员价
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公差配合与技术测量 版权信息

  • ISBN:9787040500110
  • 条形码:9787040500110 ; 978-7-04-050011-0
  • 装帧:暂无
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 所属分类:>

公差配合与技术测量 内容简介

本书的编写结合了近年来高等职业教育改革的成果以及高等职业教育的特点,以成果导向为主导思想,理论与实践紧密结合。全书采用**颁布的国家标准,把传统测量技术与先进测量设备及新技术应用相结合,使教材内容与技术发展紧密结合。 本书共分7章,内容包括: 绪论,尺寸的公差、配合与检测,几何公差与检测,表面粗糙度与检测,圆锥和角度的公差与检测,光滑极限量规设计,常用结合件的公差与检测。 本书为新形态一体化教材,书中配有微课、动画等数字化资源,学生可以随扫随学。 本书可以作为高等职业院校机械类及近机械类专业专科教材,也可作为成人教育学院、函授大学、电视大学等相关专业的教材,还可作为从事机械设计与机械制造相关工作的工程技术人员的参考用书。

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