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一般工业技术

材料喷丸强化及其X射线衍射表征

作者：姜传海

出版社：科学出版社出版时间：2019-06-01

开本： 25cm 页数： 17,570页

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内容简介
目录

材料喷丸强化及其X射线衍射表征版权信息

ISBN：9787030565013
条形码：9787030565013 ; 978-7-03-056501-3
装帧：平装胶订
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：
工业技术
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一般工业技术

材料喷丸强化及其X射线衍射表征本书特色

　　《材料喷丸强化及其X射线衍射表征》分四大部分，共17章。**部分（第1～3章）介绍喷丸强化的基本原理、设备、工艺及其对材料/零部件性能的影响。第二部分（第4～10章）介绍X射线衍射的原理和表征喷丸强化表层结构的X射线衍射方法，包括晶体学及X射线源衍射原理、多晶物相的定量分析方法、多晶材料织构衍射分析方法、宏观应力的X射线衍射测定方法、多晶材料中微结构和层错的衍射线形分析、喷丸表面微结构和位错的衍射线形分析、Rietveld全谱拟合及其在喷丸表层结构表征中的应用；第三部分（第11～16章）介绍对相关材料/零部件喷丸强化表层结构的X射线衍射表征和研究结果，包括喷丸应力的模型数值模拟，以及主要钢材、铝和铝基复合材料、钛合金及钛基复合材料、镍基高温合金单晶DD3、重要典型零部件的喷丸表层结构表征与研究。第四部分（第17章）为《材料喷丸强化及其X射线衍射表征》的总结：弹丸对材料的作用机理和喷丸强化机理，主要包括喷丸机理分析基础——单丸条件下的受力变形分析、喷丸表层塑性变形、应力强化机理、晶粒细（纳米）化机理、组织-结构强化机理（细晶强化机理、相变强化机理、缺陷强化)。

材料喷丸强化及其X射线衍射表征内容简介

分四大部分, 共17章。**部分 (第1-3章) 介绍喷丸强化的基本原理、设备、工艺及其对材料/零部件性能的影响。第二部分 (第4-10章) 介绍X射线衍射的原理和表征喷丸强化表层结构的X射线衍射方法。第三部分 (第11-16章) 介绍对相关材料/零部件喷丸强化表层结构的X射线衍射表征和研究结果。第四部分 (第17章) 为《材料喷丸强化及其X射线衍射表征》的总结: 弹丸对材料的作用机理和喷丸强化机理。

材料喷丸强化及其X射线衍射表征目录

目录第1章喷丸强化原理和设备 11.1 喷丸发展 11.2 喷丸强化原理 21.3 喷丸机 41.3.1 气动式喷丸机 41.3.2 机械离心式喷丸机 101.3.3 喷丸机选择原则 131.4 弹丸种类 131.4.1 喷丸过程中弹丸的状态 141.4.2 铸钢弹丸 151.4.3 钝化钢丝切丸 161.4.4 玻璃及陶瓷弹丸 201.5 弹丸的质量 241.5.1 弹丸的质量要求和检验方法 241.5.2 弹丸尺寸的均匀性 251.5.3 弹丸的硬度和使用寿命 251.5.4 弹丸的选择原则 251.6 弹丸的筛选设备 27参考文献 29第2章喷丸工艺和评价 312.1 喷丸方法和工艺概述 312.2 主要喷丸工艺参数试验 322.2.1 喷丸强度试验 322.2.2 表面覆盖率试验 342.3 喷丸**工艺参数的选择 402.4 喷丸强化工艺质量的控制和检验 402.5 零部件的喷丸强化工艺规范 412.6 影响喷丸强化效果的参数 432.6.1 弹丸尺寸的影响 432.6.2 弹丸速度的影响 442.6.3 弹丸形状的影响 442.6.4 喷丸强化时间的影响 452.6.5 喷丸温度的影响 452.6.6 喷丸工件应力状态的影响 462.7 受喷材料/零部件表面粗糙度 472.7.1 喷丸表面的粗糙度 472.7.2 测定粗糙度的方法 482.7.3 影响喷丸表面粗糙度的因素 492.7.4 改善喷丸表面粗糙度的方法 492.8 喷丸强化工艺过程常遇到的问题 492.8.1 喷丸强度不稳定 492.8.2 喷丸覆盖率不稳定 522.8.3 弹丸再循环问题 532.8.4 静电问题 542.9 喷丸强化工艺规范说明 54参考文献 55第3章喷丸强化对材料性能的影响及其应用领域 563.1 喷丸强化对材料疲劳性能的影响 563.1.1 金属材料的疲劳性能 563.1.2 喷丸对几种钢材疲劳性能的影响 613.1.3 喷丸强化对DD5镍基高温合金单晶材料疲劳性能的影响 643.1.4 喷丸强化对TC21高强度钛合金疲劳性能的影响 653.1.5 喷丸强化对ZK60镁合金高周疲劳性能的影响 663.1.6 喷丸强化对铝合金疲劳性能的影响 673.2 喷丸强化对材料应力腐蚀性能的影响 683.2.1 喷丸和退火对304不锈钢晶间腐蚀性能的影响 683.2.2 喷丸对铝合金和钛合金抗应力腐蚀性能的影响 693.2.3 喷丸对钢材抗应力腐蚀性能的影响 703.3 喷丸强化对材料其他性能的影响 713.3.1 显著提高其抗高温水蒸气氧化性能 713.3.2 明显提高材料的硬度 753.3.3 明显提高材料的屈服强度 763.4 喷丸强化的应用领域 783.4.1 一般介绍 783.4.2 喷丸强化在航空航天工业中的应用 783.4.3 喷丸强化在汽车工业中的应用 80参考文献 82第4章晶体学、X射线源衍射原理 844.1 晶体学基础 844.1.1 点阵概念 844.1.2 晶胞、晶系 844.1.3 点阵类型 854.1.4 宏观对称性和点群 864.1.5230 种空间群 884.2 实验室X射线源 894.3 同步辐射X射线源 914.3.1 同步辐射光源的原理 914.3.2 同步辐射光源的主要特征 934.4 射线与物质的交互作用 964.4.1 X射线的吸收 964.4.2 激发效应 974.4.3 X射线的折射 974.4.4 X射线的反射 984.4.5 物质对X射线的散射和衍射 984.5 射线衍射线束方位——劳厄方程和布拉格公式 994.5.1 劳厄方程 994.5.2 布拉格公式 1014.6 多晶体衍射强度的运动学理论 1024.6.1 单个电子散射强度 1024.6.2 单个原子散射强度 1034.6.3 单个晶胞散射强度 1044.6.4 实际小晶粒积分衍射强度 1064.6.5 实际多晶体衍射强度 1074.6.6 实际多晶体的衍射强度公式 1094.7 喷丸强化表层结构的衍射效应 110参考文献 110第5章多晶物相的定量分析方法 1115.1 多晶物相定量分析的原理 1115.1.1 单相试样衍射强度的表达式 1125.1.2 多重性因数 1125.1.3 结构因数 1125.1.4 温度因数 1135.1.5 吸收因数 1135.1.6 衍射体积 1145.1.7 多相试样的衍射强度 1155.2 采用标样的定量相分析方法及其比较 1165.2.1 标样法的特点比较 1175.2.2 标样法的实验比较研究 1195.3 无标样的定量相分析方法及其比较 1205.3.1 无标样法特征的比较 1205.3.2 无标样法的实验比较 1215.4 多峰定量法 1235.4.1 多衍射峰强度的权因子定量分析法 1235.4.2 黄旭鸥、陈名浩多峰定量法 1245.5 物相定量多峰匹配强度比方法 1275.6 大块样品的定量分析技术 1305.7 实例——304奥氏体钢喷丸过程中马氏体相变 135参考文献 136第6章多晶材料织构衍射分析方法 1396.1 晶粒取向和织构及其分类 1396.1.1 晶体取向的表达式 1396.1.2 晶体学织构及分类 1406.2 极图测定 1416.2.1 极图测定的衍射几何和方法 1416.2.2 数据处理和极图的描绘 1436.3 反极图的测定 1446.4 三维取向分布函数 1466.4.1 一般介绍 1466.4.2 极密度分布函数 1476.4.3 三维取向分布函数的表达式 1476.4.4 三维取向分布函数的计算 1486.4.5 三维取向分布函数的截面图和取向线 1496.5 材料织构实验测定结果的综合分析 1506.5.1 理想取向的分析 1506.5.2 多重织构组分分析 1536.5.3 织构的形成和演变 1546.6 实例——喷丸对S30432奥氏体不锈钢原始织构的影响 156参考文献 157第7章宏观应力的X射线衍射测定方法 1597.1 应力状态分类和应力应变间的基本关系式 1597.1.1 三轴应力 1597.1.2 平面应力（双轴应力） 1637.1.3 单轴应力 1647.1.4 主应力状态 1647.2 宏观应力X射线测定的衍射几何 1657.2.1 测定宏观应力的一般X射线衍射方法 1657.2.2 测定宏观应力的掠入射X射线衍射方法 1677.3 宏观应力测定的基本方法 1707.3.1 衍射应力分析的参考坐标系 1707.3.2 一般情况下εφψ的表达式 1707.3.3 宏观内应力测量的同倾法（ω模式） 1717.3.4 宏观内应力测量的侧倾法 1727.3.5 φ旋转和ψ旋转的实质 1747.4 宏观应力测定主要实验装备 1757.4.1 一般多晶X射线衍射仪中的应力附件 1757.4.2 X射线应力测定仪 1767.5 双轴应力的测定原理和方法 1797.5.1 0°-45°法 1807.5.2 sin2ψ法 1807.6 喷丸表层力学特性研究 1817.6.1 原位X射线屈服强度测定原理 1817.6.2 TC4钛合金拉伸力学行为 1827.7 残余应力测定实例——18CrNiMo7-6钢喷丸残余应力 1847.7.1 残余应力计算公式 1847.7.2 喷丸残余应力沿层深的分布 1847.7.3 喷丸表面残余应力的均匀性 186参考文献 187第8章多晶材料中微结构和层错的衍射线形分析 1898.1 谱线线形的卷积关系 1898.2 晶粒度宽化和微应变宽化 1908.2.1 X射线衍射晶粒度宽化效应——Scherrer公式 1908.2.2 微应变引起的宽化 1918.3 分离微晶和微应力宽化效应的各种方法 1928.3.1 Fourier级数法 1928.3.2 方差分解法 1938.3.3 近似函数法 1948.3.4 *小二乘方法 1958.3.5 前述几种方法的比较 1968.3.6 作图法与*小二乘方法的比较 1978.4 层错引起的X射线衍射效应 1998.4.1 密堆六方的层错效应 1998.4.2 面心立方的层错效应 2008.4.3 体心立方的层错效应 2018.4.4 分离密堆六方ZnO中微晶层错宽化效应的Langford方法 2028.5 分离多重宽化效应的*小二乘方法 2038.5.1 分离微晶层错二重宽化效应的*小二乘方法 2038.5.2 分离微应变层错二重宽化效应的*小二乘方法 2048.5.3 微晶微应变层错三重宽化效应的*小二乘方法 2058.5.4 计算程序系列的结构 2078.6 微晶微应变层错的测定实例 2098.6.1 MH/Ni电池活化前后对比研究 2098.6.2 实际应用小结 210参考文献 211第9章喷丸表面微结构和位错的衍射线形分析 2129.1 位错等多重宽化的线形分析 2139.1.1 晶体缺陷引起的衍射效应 2139.1.2 运动学散射理论框架中衍射峰宽化 2139.1.3 均方应变的位错模型 2149.1.4 在特征非对称线形情况下〈εg L2〉的形式 2149.2 改进的Williamson-Hall方法和Fourier方法 2159.2.1 Williamson公式和改进的Williamson-Hall方法 2159.2.2 用Fourier方法测定位错密度 2169.2.3 球磨α-铁粉中的晶粒大小和位错密度测定 2179.3 位错宽化的确定 2189.4 位错的比对因子Chkl的意义 2199.4.1 位错的比对因子Chkl的评定 2199.4.2 测定位错的位移场 2239.5 位错比对因子Chkl的计算 2269.5.1 fcc材料的Chkl值 2269.5.2 bcc材料的Chkl值 2309.6 由半高宽求解晶粒大小和位错密度 2349.7 求解晶粒大小微应变位错的Voigt单线法和*小二乘方法 2359.7.1 Voigt单线法的原理 2

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