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航天电子互联技术

航天电子互联技术

出版社:中国宇航出版社出版时间:2015-12-01
开本: 27cm 页数: 380
本类榜单:工业技术销量榜
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航天电子互联技术 版权信息

  • ISBN:9787515910789
  • 条形码:9787515910789 ; 978-7-5159-1078-9
  • 装帧:一般胶版纸
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 所属分类:>

航天电子互联技术 本书特色

本书是一部系统研究航天电子互联技术的著作,介绍了航天电子互联技术的内涵、发展现状、主要技术及取得的成果,体现了航天特色,并且紧密跟踪电子互联技术的发展趋势,将微观封装与宏观电装有机地结合在一起。全书共9章,主要包括单片集成电路封装技术、混合集成电路互联技术、微波组件组装技术、印制电路板制造技术、印制电路板组装件互联技术、整机装联技术、电子互联可靠性分析与验证、航天电子产品数字化制造等内容。

航天电子互联技术 内容简介

本书是一部系统研究航天电子互联技术的著作, 介绍了航天电子互联技术的内涵、发展现状、主要技术及取得的成果, 体现了航天特色, 并且紧密跟踪电子互联技术的发展趋势, 将微观封装与宏观电装有机地结合在一起。

航天电子互联技术 目录

第1章 概述1.1 航天电子互联的概念1.2 航天电子互联技术在航天制造技术领域的地位和作用1.3 航天电子互联的发展简史1.4 航天电子互联的技术展望第2章 单片集成电路封装技术2.1 概述2.2 单片集成电路封装原材料2.2.1 引线键合封装工艺原材料2.2.2 cbga/ccga封装工艺原材料2.2.3 倒装焊芯片封装工艺原材料2.3 单芯片封装技术2.3.1 内部互联2.3.2 外部互联2.4 集成电路封装设计2.4.1 封装设计概述2.4.2 封装设计内容2.5 单片集成电路试验与检测2.5.1 单片集成电路封装工艺过程检测2.5.2 单片集成电路成品检验试验2.5.3 单片集成电路可靠性验证2.6 单片集成电路对电子产品装联的影响2.6.1 集成电路内部互联材料对电装过程中焊接温度的要求2.6.2 各种封装形式对电子产品装联的影响2.7 典型故障2.7.1 芯片粘接系统失效2.7.2 互联系统失效2.7.3 内部多余物引起的失效2.7.4 电路封装的典型缺陷分析2.8 航天特殊要求及禁忌2.9 展望2.9.1 面向高密度发展2.9.2 面向系统级封装(sip)技术的发展2.9.3 从单芯片封装(single chip package,scp)向多芯片组件(mcm)发展2.9.4 面向三维(three dimension,3d)微组装技术的发展参考文献第3章 混合集成电路互联技术3.1 概述3.2 混合集成电路封装原材料3.2.1 基板材料3.2.2 导体材料3.2.3 介质材料3.2.4 封装材料3.3 混合集成电路基板制备技术3.3.1 低/高温共烧陶瓷基板制备工艺3.3.2 混合集成电路薄/厚膜制备工艺3.4 混合集成电路的组装3.4.1 混合集成电路的组装工艺流程3.4.2 混合集成电路的组装工艺技术3.4.3 多余物控制技术3.4.4 混合集成电路水汽控制与检测3.5 混合集成电路试验与检测3.5.1 混合集成电路封装工艺在线检测3.5.2 混合集成电路试验3.6 典型故障3.6.1 大腔体外壳平行缝焊漏气问题3.6.2 电容立碑失效3.7 混合集成电路对电子产品装联的影响3.8 航天特殊要求及禁忌3.9 展望参考文献第4章 微波组件组装技术4.1 概述……第5章 印制电路板制造技术第6章 印制电路板组装件互联技术第7章 整机装联技术第8章 电子互联可靠性分析与验证第9章 航天电子产品数字化制造技术参考文学附录 缩略语
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航天电子互联技术 作者简介

潘江桥,硕士,研究员,现任航天科技集团公司工艺专家副组长,历任航天一院质量技术部技术处副部长、新一代运载火箭副总指挥官等。长期从事工艺技术与工艺管理工作,策划并组织完成了中国航天电子技术研究院“十一五”“十二五”工艺技术及工艺管理发展规划,组织完成了多项研究工作并取得了一系列成果,荣获国防科学技术进步二等奖。编著并出版《航天电子设计工艺性》等多部图书。  

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