图书盲袋,以书为“药”
欢迎光临中图网 请 | 注册

软件缺陷模式与测试

作者:宫云战等
出版社:科学出版社出版时间:2011-07-01
开本: 16开 页数: 276
中 图 价:¥40.3(7.2折) 定价  ¥56.0 登录后可看到会员价
加入购物车 收藏
运费6元,满39元免运费
?新疆、西藏除外
本类五星书更多>

软件缺陷模式与测试 版权信息

商品评论(0条)
暂无评论……
书友推荐
本类畅销
编辑推荐
返回顶部
中图网
在线客服