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微电子学、集成电路（IC）

微电路国家标准汇编-(基础及测试方法卷)

作者：暂无

出版社：中国标准出版社出版时间：2008-02-01

开本： 16开 页数： 587

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版权信息
内容简介
目录

微电路国家标准汇编-(基础及测试方法卷) 版权信息

ISBN：9787506648011
条形码：9787506648011 ; 978-7-5066-4801-1
装帧：暂无
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：
工业技术
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微电子学、集成电路（IC）

微电路国家标准汇编-(基础及测试方法卷) 内容简介

为便于广大读者查阅和使用微电路国家标准，我社编辑出版《微电路国家标准汇编》，汇编收入截至2007年底前发布实施的国家标准，分两卷出版。本汇编为《微电路国家标准汇编基础及测试方法卷》，共收集有关国家标准23项。
　　本汇编在使用时应读者注意以下两点：
　　1.收入标准的出版年代不尽相同，对于其中的量和单位不统一之处及各标准格式不一致之处未做改动。
　　2.本汇编收集的国家标准的属性已在本目录上标明（GB或GB/T），标准年号用四拉数字表示。鉴于部分标准是在清理整顿前出版的，现尚未修订，故正文部分保留原样。

微电路国家标准汇编-(基础及测试方法卷) 目录

基础标准
　GB／T 2900.66－2004 电工术语半导体器件和集成电路
　GB／T 3430－1989半导体集成电路型号命名方法
　GB／T 3431.2－1986半导体集成电路文字符号引出端功能符号
　GB／T 4728.12－1996 电气简图用图形符号第12部分：二进制逻辑元件
　GB／T 7092－1993半导体集成电路外形尺寸
　GB／T 9178－1988 集成电路术语
　GB／T 12842－1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
　GB／T 14113－1993半导体集成电路封装术语
　GB／T 15138－1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
　GB／T 20296－2006 集成电路记忆法与符号
测试方法标准
　GB／T 4377－1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
　GB／T 6798－1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
　GB／T 14028－1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
　GB／T 14029－1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
　GB／T 14030－1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
　GB／T 14031－1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
　GB／T 14032－1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
　GB／T 14114－1993 半导体集成电路电压／频率和频率／电压转换器测试方法的基本原理
　GB／T 14115－1993 半导体集成电路采样／保持放大器测试方法的基本原理
　GB／T 14862－1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
　GB／T 16526－1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法
　GB／T 19248－2003封装引线电阻测试方法
　GB／T 19403.1－2003半导体器件集成电路第11部分：第1篇：半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）

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